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- 前沿研究和科研分論壇
LabVIEW和測試測量技術 華夏廳
首席LabVIEW專家團講解如何提高開發(fā)效率，與Python等多語言融合，全新開源LabVIEW框架，帶來最全面的LabVIEW新內容。演講結束后專家團會繼續(xù)與使用者交流，回答問題及分享經(jīng)驗。
| 時間 | 演講嘉賓及主題 |
| 09:30~10:30 | 主題演講（華夏廳） |
| 10:30~11:00 | Demo 參觀 |
| 11:00~11:30 |  衡山NI，Emerson T&M 資深客戶方案工程師 演講主題：LabVIEW新特性匯總及開發(fā)技巧分享 演講摘要：本技術會議將匯總介紹近年來LabVIEW的新特性，尤其是在提升測試開發(fā)效率上的新功能，從而使開發(fā)人員以最新的編程技術高效應對測試測量軟件開發(fā)的挑戰(zhàn)。同時將分享在LabVIEW使用過程中的部分內外部工具以及技能，幫助您的代碼開發(fā)更規(guī)范更高效。 |
| 11:30~12:00 | 
周曉霜NI，Emerson T&M 首席技術支持工程師 演講主題：LabVIEW+與Python等多語言編程融合實踐 演講摘要：隨著新的技術比如無人駕駛，人工智能等快速發(fā)展迭代，對新的測試項目和方案落地時間的要求也越來越高。有效利用各種不同語言和平臺下已經(jīng)開發(fā)好的"輪子"并快速集成到整體的測試方案中來可以達到事半功倍的效果。LabVIEW+套件近幾年對其他語言集成支持持續(xù)改進。本主題會詳細介紹LabVIEW和Teststand對Python和.net的集成使用調試以及對gRPC的支持，互聯(lián)互通更快更好開發(fā)測試方案。 |
| 12:00~13:30 | 午餐+Demo 參觀 |
| 13:30~14:00 |  李遙NI，Emerson T&M 資深應用工程師 演講主題：一種全新的開源LabVIEW編程框架- 可通訊狀態(tài)機框架 演講摘要：可通信狀態(tài)機（CSM）是一個基于JKI狀態(tài)機（JKISM）的全新開源的LabVIEW程序框架。它遵循JKISM的文本隊列模式，擴展了關鍵詞以描述模塊之間的消息通信，包括同步消息、異步消息、狀態(tài)訂閱/取消訂閱等概念。在本次演講中，將通過CSM基礎介紹、與DQMH/Actor Framework的比較、CSM復雜場景的案例分享，展示CSM簡潔、易測試、易拓展的優(yōu)勢。https://github.com/NEVSTOP-LAB/Communicable-State-Machine |
| 14:00~14:30 |  宋軍龍北京東方中科集成科技股份有限公司 業(yè)務拓展部經(jīng)理 演講主題：新環(huán)境下企業(yè)需要的數(shù)據(jù)采集測試方案 演講摘要：他將分享近年來國內產(chǎn)業(yè)升級過程中測試方案發(fā)展變化，并已各類數(shù)采系統(tǒng)為例討論各行業(yè)客戶面對未來經(jīng)濟環(huán)境如何搭建自己的測試系統(tǒng)。 |
| 14:30~15:00 |  曹行NI，Emerson T&M 中國射頻無線業(yè)務增長經(jīng)理 演講主題：NI射頻與無線平臺新產(chǎn)品介紹和應用分享 演講摘要：隨著B5G/6G，低空智聯(lián)，衛(wèi)星互聯(lián)網(wǎng)等行業(yè)的方興未艾，射頻測試與無線原型驗證系統(tǒng)的需求也在快速變化，如何應對日益復雜的射頻系統(tǒng)的測試與驗證成為了行業(yè)的共性挑戰(zhàn)。NI利用其先進的測試儀器和平臺化的軟件定義能力，與工業(yè)屆和院校科研開展廣泛的合作，本次演講將基于NI第三代高性能的矢量信號收發(fā)機（VST）和軟件定義無線電平臺（USRP）的新產(chǎn)品進行展開，介紹新一代高性能的射頻測試與原型驗證方案，分享其應用演示和案例。 |
| 15:00~15:30 | 茶歇+Demo 參觀 |
| 15:30~16:00 |  劉晉東北京曾益慧創(chuàng)科技有限公司（IECUBE） CMO & CPO 演講主題：Empower Future Test Engineer - 淺談集成電路教研融合 演講摘要：集成電路是一個實踐性非常強的交叉綜合學科，學生需要掌握的許多知識和技能必須通過實踐教學環(huán)節(jié)來培養(yǎng)，為了更好的培養(yǎng)面向產(chǎn)業(yè)需求培養(yǎng)集成電路人才，對于實踐環(huán)節(jié)的升級改造和建設是一個重點，而這恰恰也是高校建好微電子和集成電路專業(yè)的難點所在： 1) 實踐教學體系無法覆蓋集成電路"設計-制造-封裝-測試"全產(chǎn)業(yè)鏈 2) 目前實踐教學環(huán)節(jié)使用的教學設備技術落后，無法與行業(yè)技術和需求接軌 3) 由于微電子和集成電路儀器設備成本高、易損耗、占用空間大，無法保證對學生獲得充分地實踐教學資源 為幫助高校解決上述提到的挑戰(zhàn)，更好的助力集成電路人才培養(yǎng)，北京曾益慧創(chuàng)科技有限公司（以下簡稱"IECUBE"）融合NI先進的測試平臺技術，推出了微電子和集成電路專業(yè)實訓中心建設解決方案。 |
| 16:00~16:30 |  莫映亮NI，Emerson T&M 系統(tǒng)工程部高級經(jīng)理 演講主題：高性能DC測試- NI PXI源測量單元及其應用 演講摘要：源測量單元（SMU）被廣泛應用于新材料研究、光電器件測試、新能源、生命醫(yī)療和半導體測試等領域。NI擁有豐富的基于PXI平臺的模塊化SMU產(chǎn)品線，其產(chǎn)品本身擁有諸多獨特功能，再結合PXI平臺的優(yōu)勢，NI PXI SMU可以為相關應用領域提供高性能測試解決方案，在提高測試覆蓋率，降低測試成本，縮短產(chǎn)品上市時間等方面有獨特優(yōu)勢。 |
| 16:30-17:00 | 主會場 幸運抽獎（華夏廳） |
40+Demo齊亮相 產(chǎn)品平臺7大熱門Demo搶先劇透
現(xiàn)場將有40+Demo展出，產(chǎn)品平臺7大熱門Demo如下，更多Demo將陸續(xù)公開，敬請期待。
• 以LabVIEW為核心的開放軟件平臺
• PXI模塊化智能測試平臺
• 便攜式數(shù)據(jù)采集與控制平臺
• USRP軟件無線電設備
• 基于PXI的高帶寬矢量信號收發(fā)儀
• NI矢量信號收發(fā)儀精確度的優(yōu)質校準
• 面向NI矢量信號收發(fā)儀的高精度故障診斷方案
*Demo以現(xiàn)場展示為準
「半導體」會議廳5BC
實現(xiàn)半導體測試現(xiàn)代化，串聯(lián)芯片實驗室到量產(chǎn)測試的每個環(huán)節(jié)。分論壇涉及多種芯片的測試案例，如Wi-Fi 7，高速ADC，光電，高功率射頻器件等，并探索整合AI輔助的測試方法。
| 時間 | 演講嘉賓及主題 |
| 09:30~10:30 | 主題演講（會議廳5BC） |
| 10:30~11:00 | Demo 參觀 |
| 11:00~11:30 |  陳彩云NI，Emerson T&M 半導體業(yè)務應用工程團隊經(jīng)理 演講主題：VST用于射頻前沿技術測試 演講摘要：本次演講將介紹最新的矢量信號收發(fā)器PXIe-5842 如何準確地生成和測量所需的寬帶調制信號，支持高達26.5GHz工作頻率與2GHz帶寬，可用于測試各種最新無線通信標準產(chǎn)品，包含Wi-Fi 7, UWB, 6G FR3…等；也可應用于航空航天與國防場景。具有數(shù)字和模擬脈沖調制功能，同時支持頻譜分析、信號分析和信號生成等傳統(tǒng)射頻功能，協(xié)助您克服各種測試挑戰(zhàn)。 |
| 11:30~12:00 | 
徐佩南京派格測控科技有限公司 市場部負責人 演講主題：高功率射頻器件測試技術 演講摘要：演講將介紹三種不同場景和應用的高功率測試技術，包含基站PA芯片測試，手機Tuner開關測試以及濾波器諧振器測試。主要介紹這些測試技術的測試方法和關鍵訣竅。 |
| 12:00~13:30 | 午餐+Demo 參觀 |
| 13:30~14:00 |  孫冶NI，Emerson T&M 亞太區(qū)半導體業(yè)務經(jīng)理 演講主題：NI新一代射頻測試機介紹與應用分享 演講摘要： • NI射頻測試機主要針對手機與路由器內的射頻芯片，基站內部的射頻芯片以及衛(wèi)星通信中的毫米波芯片。并能夠提供統(tǒng)一的平臺性方案。 • NI基于Silo的模塊化設計方案可以幫助客戶輕松升級與完善現(xiàn)有的測試機投資來支持新的射頻芯片的業(yè)務。 • NI使用實驗室性能級別的儀表在測試機中，可以提供客戶最佳的射頻測試性能與測試時間。 • 針對毫米波波束成型芯片的測試，NI提供業(yè)界獨家的快速幅度與相位掃描的測試技術方案并可以極大的節(jié)省客戶的測試時間。 |
| 14:00~14:30 |  駱劼行上海孤波科技有限公司 產(chǎn)品經(jīng)理（測試自動化） 演講主題：AI 輔助的芯片硅后驗證實踐 演講摘要：隨著包括深度學習（DL）、大型語言模型（LLM）、強化學習（RL）在內的機器學習技術的發(fā)展，芯片硅后驗證領域迎來了創(chuàng)新的機遇。本次會議將深入探討如何利用各種機器學習技術，優(yōu)化從芯片硅后驗證的測試需求出發(fā)，拆解測試用例并生成測試程序，收集測試結果并進行調試，回溯Spec指標進行對比并最終輸出Datasheet的全流程自動化過程。我們將探討在實際的芯片硅后驗證的工作流中應用最新的AI算法，提升效率并縮短開發(fā)周期。 |
| 14:30~15:00 |  陳勇NI，Emerson T&M 主任系統(tǒng)架構師 演講主題：高速 ADC(JESD204B) 測試方案 演講摘要：傳統(tǒng)的單lane 的CMOS/LVDS 接口只能覆蓋1~2Gbps 以下速率的數(shù)據(jù)傳輸，為了達到更高的傳輸速率，只能增加更多的接口，而更高速率的JESD204B/C 沒有此問題，因此更簡潔接口的JESD204B/C將會成為高速數(shù)據(jù)傳輸?shù)内厔?，基于JESD204B/C的高速ADC 也會越來越普及，因此NI提出了基于PXIe-6594的高速ADC測試方案，此方案對JESD204B進行了高度的封裝，客戶不用花時間在204B的協(xié)議實現(xiàn)上，大大簡化了高速ADC的測試。 |
| 15:30~16:00 |  周鑫淼中山市博測達電子科技有限公司 副總經(jīng)理 演講主題：針對量產(chǎn)的標準化FCT平臺設計 演講摘要：目前，在工業(yè)、醫(yī)療、能源、國防領域，存在著大量的多種類、小批量的量產(chǎn)自動化測試需求。博測達根據(jù)二十年的行業(yè)經(jīng)驗，總結出模塊化標準測試平臺，針對從手動測試到半自動化測試到全自動化測試提出完整的解決方案，并在多個頭部客戶中取得了非常優(yōu)秀的效果。 |
| 15:00~15:30 | 茶歇+Demo 參觀 |
| 16:00~16:30 |  李成NI，Emerson T&M 主任系統(tǒng)架構師 演講主題：基于PXI平臺的光電子應用測試方案 演講摘要：AI、LLM和ML正在推動高性能計算蓬勃發(fā)展，數(shù)據(jù)高速傳輸是高性能計算的基礎，光電子則為高速數(shù)據(jù)傳輸提供了解決方案。光電子技術在高速演進的階段，遇到了多通道高密度傳輸、異質集成等問題，也讓測試變得更加復雜具有挑戰(zhàn)；NI基于PXI平臺的解決方案，集成了電學和光學儀器，為光電混合信號的測試和測量提供了優(yōu)質高效的平臺。 |
| 16:30-17:00 | 主會場 幸運抽獎（華夏廳） |
7大半導體熱門Demo
現(xiàn)場將有40+Demo展出，半導體7大熱門Demo如下，更多Demo將陸續(xù)公開，敬請期待。
• 使用 NI VST3 射頻儀器助力無線通信測試
• 基于JESD204B協(xié)議的高速ADC量產(chǎn)測試方案
• 基于PXI平臺光電混合板卡的MZM調制器測試方案
• 基于STS VST3的Wi-Fi 7 EVM 測試及軟件解決方案
• MCU自動化測試方案
• 應變計測試儀
• 一站式半導體測試解決方案
*Demo以現(xiàn)場展示為準
「新能源汽車」會議廳5DE
新能源汽車快速普及，軟件定義汽車不僅改變了汽車本身，也將帶來汽車測試上的革命。分論壇將圍繞軟件定義汽車，自動駕駛測試與車規(guī)半導體測試展開，探索全新的測試方法，以適應快速行業(yè)變革。
| 時間 | 演講嘉賓及主題 |
| 09:30~10:30 | 主題演講（會議廳5DE） |
| 10:30~11:00 | Demo 參觀 |
| 11:00~11:30 |  王暉NI，Emerson T&M 主任系統(tǒng)研發(fā)工程師 演講主題：未來駕駛：軟件定義汽車（SDV）的測試革命 演講摘要：隨著汽車行業(yè)向軟件定義汽車（SDV）轉型，市場趨勢顯示對高度自動化和靈活測試解決方案的需求激增。然而，傳統(tǒng)測試方法面臨多重挑戰(zhàn)，包括復雜的系統(tǒng)集成和快速變化的技術標準。NI通過創(chuàng)新的HIL測試解決方案，致力于應對這些挑戰(zhàn)。我們的方案不僅提升了資產(chǎn)利用率和生產(chǎn)力，還改善了團隊協(xié)作，大幅縮短了設置和配置時間。借助先進的自動化技術和靈活性，NI確?？蛻裟軌蚩焖龠m應市場變化，實現(xiàn)高效、可靠的測試流程，從而加速產(chǎn)品上市，提升競爭優(yōu)勢。 |
| 11:30~12:00 | 
鄭凱蘇州瑞地測控技術有限公司 總經(jīng)理 演講主題：從毫米波雷達測試到域控測試，構建完善的ADAS測試解決方案 演講摘要：從物理信號仿真，硬線信號仿真和測試，再到車載以太網(wǎng)及域控單元的測試，瑞地測控為智能網(wǎng)聯(lián)企業(yè)提供完備的測試解決方案；緊縮場測試、DSI3總線協(xié)議仿真器、TSN網(wǎng)絡交換設備，GMSL視頻注入單元等專用測試單元的開發(fā)為ADAS從業(yè)者提供了便利的測試手段和有效的評價方法。 |
| 12:00~13:30 | 午餐+Demo 參觀 |
| 13:30~14:00 |  徐磊NI，Emerson T&M 資深系統(tǒng)工程師 演講主題：借助NI測試方案，加速ADAS/自動駕駛開發(fā)迭代 演講摘要：隨著ADAS和自動駕駛技術的迅速發(fā)展，如何加速開發(fā)迭代成為行業(yè)的焦點。此次演講將分享市場動態(tài)和技術趨勢，并充分展示NI的全面測試方案，包括數(shù)據(jù)采集、數(shù)據(jù)回灌以及HIL測試等。隨后將介紹測試方案中關鍵技術，如數(shù)據(jù)在線壓縮、RDMA直接注入和逆ISP實現(xiàn)，展示這些技術如何提升ADAS/自動駕駛測試的效率和性能。最后，還將展望未來的技術趨勢，如集群測試，助力應對更復雜的測試挑戰(zhàn)。 |
| 14:00~14:30 |  屠方澤上海眾執(zhí)芯信息科技有限公司 銷售與市場經(jīng)理 演講主題：基于NI平臺的車聯(lián)網(wǎng)與車路協(xié)同一體化測試系統(tǒng) 演講摘要：車聯(lián)網(wǎng)測試系統(tǒng)是指用于對車聯(lián)網(wǎng)技術、設備、應用及服務等進行全面測試的系統(tǒng)。其目的在于通過模擬實際運行環(huán)境和各種可能的場景，發(fā)現(xiàn)潛在的問題和缺陷，為車聯(lián)網(wǎng)技術的研發(fā)、優(yōu)化和應用提供可靠的保障。本演講介紹基于NI平臺的車聯(lián)網(wǎng)測試系統(tǒng)覆蓋應用、網(wǎng)絡層、消息層、安全層和射頻測試。并支持最新發(fā)布的強標GB44495-2024《汽車整車信息安全技術要求》。并介紹在實際場景下通過信道模擬器來真實還原外場無線環(huán)境。 |
| 14:30~15:00 |  余東海杭州迪為科技有限公司 HIL測試高級經(jīng)理 演講主題基于NI PXI平臺的整車級HIL仿真測試系統(tǒng) 演講摘要：隨著汽車智能化快速發(fā)展，汽車上各系統(tǒng)控制器交互場景相應大幅提高，傳統(tǒng)單控制器HIL測試系統(tǒng)已無法滿足跨系統(tǒng)測試需求，迪為科技基于NI PXI平臺開發(fā)出一套整車級HIL測試系統(tǒng)，該系統(tǒng)可實現(xiàn)三電域、底盤域、智駕域和車身域的單一控制器、單域測試，也可聯(lián)合進行整車級HIL測試。 |
| 15:00~15:30 | 茶歇+Demo 參觀 |
| 15:30~16:00 |  楊堃NI，Emerson T&M 半導體大客戶經(jīng)理 演講主題：寬禁帶半導體（SiC）動態(tài)可靠性測試的挑戰(zhàn) 演講摘要：由于其優(yōu)越的材料特性，寬禁帶半導體(WBG)在許多功率應用中正逐步取代傳統(tǒng)的硅基器件，其中的熱點之一就是SiC上車用作電動汽車逆變器的核心組件，同時帶來的問題是如何確保SiC模組的可靠性。本次議題將會介紹在AQG324中新定義了針對WBG的測試方法以及NI SET動態(tài)可靠性測試方案，為SiC上車保駕護航。 |
| 16:00~16:30 |  戴留興固勢(蘇州)科技有限公司 CEO 演講主題：車規(guī)級半導體SiC功率模塊動靜態(tài)測試系統(tǒng) 演講摘要：GS車規(guī)級半導體功率模塊測試系統(tǒng)是一款針對功率半導體芯片，器件，模塊的專用測試設備，系統(tǒng)可針對動靜態(tài)測試配置不同的輸入輸出設備，實現(xiàn)IGBT，以及寬禁帶半導體SiC，GaN 等功率半導體芯片，器件，模塊的動靜態(tài)參數(shù)測試。 |
| 16:30-17:00 | 主會場 幸運抽獎（華夏廳） |
11大新能源汽車熱門Demo
現(xiàn)場將有40+Demo展出，產(chǎn)品平臺7大熱門Demo如下，更多Demo將陸續(xù)公開，敬請期待。
• 基于VTD和NVIDIA Orin的自動駕駛HIL方案
• 自動駕駛智能攝像頭回灌測試系統(tǒng)
• 車規(guī)芯片HIL測試
• 基于NI平臺開發(fā)EPS HIL測試系統(tǒng)
• 車聯(lián)網(wǎng)測試解決方案
• 完善的傳感器及域控測試解決方案
• 基于NI的IGBT/SiC的動態(tài)測試
• 使用NI平臺進行智能座艙的自動化測試
• 聲音與振動領域的測試測量技術
• NI電池測試系統(tǒng)
• NI ETX汽車電子生產(chǎn)測試系統(tǒng)
*Demo以現(xiàn)場展示為準
「前沿研究和科研」 會議廳5F
在商業(yè)航天，衛(wèi)星通信，院?？蒲械阮I域新技術不斷涌現(xiàn)，針對新的方案需要進行快速的原型開發(fā)和驗證。話題將涉及低空經(jīng)濟，數(shù)據(jù)鏈路，6G衛(wèi)星互聯(lián)網(wǎng)，高?？蒲械取?/p>
| 時間 | 演講嘉賓及主題 | ||
| 09:30~10:30 | 主題演講（華夏廳） | ||
| 10:30~11:00 | Demo 參觀 | ||
| 11:00~11:30 |  周林NI，Emerson T&M 首席業(yè)務經(jīng)理 演講主題快速迭代的模塊化仿真驗證系統(tǒng)在UAM/AAM設計開發(fā)中的應用 演講摘要：作為應用革命性技術且滿足適航標準的新一代飛行器，eVTOL在其正向開發(fā)流程中， 需要工程團隊快速搭建測試驗證系統(tǒng)和手段，以同步滿足各節(jié)點的多種測試驗證需求，加快開發(fā)流程；同時面對可能的多次設計迭代，需要測試驗證系統(tǒng)具備可靈活快速升級的能力以應對需求改變；NI System on Demand 技術為以上工程需求提供了完美的解決方案，可以根據(jù)測試需求和信號接口定義，由仿真驗證系統(tǒng)設計數(shù)據(jù)庫自動化生成標準模塊化仿真驗證系統(tǒng)設計方案，并完成系統(tǒng)交付，同時可以根據(jù)需求變化進行自動化配置完成系統(tǒng)變化和升級。System on Demand 數(shù)據(jù)庫包含通過全面軟硬件驗證的各種信號類型和多種連接方式，可以支持各種機載設備和系統(tǒng)的仿真測試，并且可以支持產(chǎn)品設計周期（V-Diagram）中不同階段的所有驗證需求。 |
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| 11:30~12:00 | 
劉金龍象控科技（上海）有限公司 創(chuàng)始人 / CEO 演講主題：6G衛(wèi)星互聯(lián)網(wǎng)發(fā)展趨勢與關鍵技術 演講摘要：衛(wèi)星互聯(lián)網(wǎng)是"高速泛在，天地一體"的未來6G立體通信網(wǎng)絡的重要組成部分。低軌衛(wèi)星及5G/6G NTN具有與地面蜂窩通信不同的技術挑戰(zhàn)，演講將在低軌星座、手機直連衛(wèi)星、3GPP NTN、相控陣天線、數(shù)字星座仿真等核心技術的分析與研判基礎上，提出快速構建科研與工程驗證技術底座的路徑與方案。 |
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| 12:00~13:30 | 午餐+Demo 參觀 | ||
| 13:30~14:00 |
演講摘要：PXI技術由NI于1997年開創(chuàng)，并已發(fā)展成為全球公認的開放式行業(yè)標準。NI PXI平臺憑借其卓越的性能、出色的可擴展性及可靠的穩(wěn)定性，已成為眾多前沿科技研究中的核心工具。在本次演講中，您將聆聽到全球頂尖學者如何在醫(yī)療成像、腦科學、存算一體、鋰電池無損檢測、聲學拓撲態(tài)等領域，充分發(fā)揮PXI平臺的優(yōu)勢，實現(xiàn)突破性的科研成果。此外，針對存算一體/憶阻器領域的加速需求，NI重磅發(fā)布了全新解決方案——UFPIV（超短脈沖測試系統(tǒng)）。通過這一創(chuàng)新技術，您將深入了解如何實現(xiàn)對復雜計算架構的高精度測試和優(yōu)化。本次演講將由NI資深技術專家傾情分享，帶您搶先掌握前沿科技的最新動態(tài)和應用實踐。 |
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| 14:00~14:30 |  陳亮陜西威邁裝備技術有限公司 總經(jīng)理 演講主題：MAL/HAL低代碼自動化測試系統(tǒng)介紹 演講摘要：自動化測試軟件的開發(fā)方面具有以下挑戰(zhàn)： （1）緊迫的開發(fā)周期 （2）需求定義不清晰 （3）測試步驟不斷變化 （4）硬件設計完成之前就要開始軟件開發(fā) （5）軟件和硬件工程師分離 維護方面具有以下挑戰(zhàn)： （1）長產(chǎn)品生命周期 （2）儀器故障、過時變更、產(chǎn)品更新 （3）測試步驟更改 （4）需要新硬件 （5）制造工程師通常不是原始的測試開發(fā)人員 因此，自動化測試軟件的模塊化、靈活性和可擴展性對于成功開發(fā)自動化功能測試系統(tǒng)至關重要，硬件抽象層(HAl)和測量抽象層(MAl)是解決這些問題的有效設計方法，采用抽象層會使得測試序列更快開發(fā)，更易于維護，更適應新的儀器和測試工藝要求，便于后期維護等。 |
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| 14:30~15:00 |  莊文軒上海華穗電子科技有限公司 項目經(jīng)理 演講主題：讓T/R組件測試可以黑燈 演講摘要：從T/R組件的生產(chǎn)測試場景出發(fā)，論述當前T/R組件測試的痛點及困境。以T/R組件測試系統(tǒng)為中心，展開介紹T/R組件的黑燈測試方法。演講分為幾大板塊：T/R組件的生產(chǎn)工藝流程、自動化測試系統(tǒng)的組成、AgileT架構支持、系統(tǒng)案例介紹等，系統(tǒng)介紹T/R組件黑燈測試的優(yōu)勢，華穗科技的T/R組件測試系統(tǒng)是如何做到高效、高精度、高集成度的。 |
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| 15:00~15:30 | 茶歇+Demo 參觀 | ||
| 15:30~16:00 |  劉亮曾益科技 研發(fā)總監(jiān) 演講主題：B5G/6G, 信道, 衛(wèi)星 SDR 解決方案 演講摘要：曾益科技基于 NI 硬件和軟件平臺, 結合自身在射頻和 FPGA 領域的專業(yè)經(jīng)驗, 為客戶提供 B5G/6G, 信道, 衛(wèi)星等相關的 SDR 解決方案。 |
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| 16:00~16:30 |  張博NI，Emerson T&M 應用工程師 演講主題：NI Datalink 測試框架與應用 演講摘要：本演講將結合NI高性能模塊化儀器VST（矢量信號收發(fā)儀）和FPGA協(xié)處理器，介紹NI最新的Datalink 測試框架，性能，以及其在衛(wèi)星通信領域的實用案例。 |
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| 16:30~17:00 | 主會場 幸運抽獎（華夏廳） |
陳欣
顧恩遙
11大前沿研究和科研熱門Demo
現(xiàn)場將有40+Demo展出，產(chǎn)品平臺7大熱門Demo如下，更多Demo將陸續(xù)公開，敬請期待。
| • NI數(shù)字收發(fā)組件測試 • T/R組件自動測試系統(tǒng) • 基于NI System-On-Demand的起落架仿真測試一體化演示平臺 • 低小慢無人機探測感知系統(tǒng) • NI DataLink解決方案 • 可切換式光學聲學分辨率顯微成像系統(tǒng) *Demo以現(xiàn)場展示為準 |
• 5G NR Application Framework • 半導體參數(shù)測試機臺 • 陣列測試平臺 • DIGILENT測試和測量系列設備 • NI半導體新型材料器件測試-超短脈沖測試 |