會議日程
| 時間 | 主題和內(nèi)容簡介 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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| 13:30-14:00 | 簽到 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 14:00-14:15 |
開場 |
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| 14:15-15:00 | 功率半導體器件動態(tài)測試與可靠性測試——測試原理，方法和設(shè)備 演講嘉賓：王芳芳——泰克技術(shù)專家 |
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| 15:00-15:20 | 茶歇 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 15:20-16:05 | 模擬芯片標定的測試誤區(qū) 演講嘉賓：葉昊生——泰克技術(shù)專家 |
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| 16:05-16:50 | 基于第三代功率半導體的電源設(shè)計及產(chǎn)品開發(fā)全流程測試方案 演講嘉賓：黃正峰——泰克技術(shù)專家 |
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| 16:50-17:00 | 抽獎 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
