基于HARQ的TD-LTE基站性能測試方案
3GPP TS 36.141規(guī)定性能測試只需在配置1下進行,因此可以根據(jù)表1的描述得到配置1時的時序圖:在配置1時,上行只在子幀2、3、7和8四個位置發(fā)送上行信號;下行由基站在子幀1、4、6和9發(fā)送ACK/NACK指令,指令的指示對象及重傳位置關系如圖1所示。
本文引用地址:http://cafeforensic.com/article/113800.htm測試平臺
硬件平臺
性能測試目的在于模擬實際環(huán)境下的系統(tǒng)吞吐率,因此需要基站與測試儀器進行聯(lián)調。硬件測試平臺包括:支持2天線接收的TD-LTE eNB基站、安捷倫基帶信號發(fā)生器與信道仿真儀PXB、安捷倫矢量信號發(fā)生器MXG(主要用于上變頻)以及一臺四通道示波器(用于系統(tǒng)調試)。測試系統(tǒng)結構如下。
PXB實時產(chǎn)生TD-LTE上行信號并經(jīng)過特定信道模型下的衰落后,輸出的基帶I/Q信號經(jīng)過MXG上變頻分別送入基站的兩根接收天線。基站端對接收到的射頻信號進行解調解碼,并以RS232C的串行通信方式將反饋結果(ACK/NACK指令)傳回至PXB,PXB根據(jù)ACK/NACK指令實時調整RV因子重新發(fā)送數(shù)據(jù)包或選擇放棄當前數(shù)據(jù)包(當eNB發(fā)送ACK信號或是已達到最大重傳次數(shù))。最后基站端統(tǒng)計得到系統(tǒng)的吞吐率。
軟件平臺
PXB通過運行在其內(nèi)部的Signal Studio N7625B-WFP for LTE TDD 軟件產(chǎn)生特定的參考測試信號,并實時地調整編碼冗余因子。
反饋信號格式
基站下發(fā)給PXB的ACK/NACK信號以RS232C串行通信的數(shù)據(jù)格式進行編碼,PXB根據(jù)相同的編碼速率和格式進行解碼得到ACK/NACK值。反饋信號由8個比特組成,1個起始位,1個停止位,無奇偶校驗位。具體的數(shù)據(jù)格式如表2所示。
負離子發(fā)生器相關文章:負離子發(fā)生器原理
評論