LCD屏幕測(cè)試

　　我們使用數(shù)字I/O卡與LCD屏幕驅(qū)動(dòng)進(jìn)行連接通信，并在LCD屏幕上生成不同的測(cè)試圖案。每個(gè)測(cè)試圖案產(chǎn)生后，連接至PCI-1411圖像采集卡的Pulnix模擬相機(jī)就會(huì)捕捉LCD屏幕上的圖像。圖案生成，LCD屏幕圖像捕捉，和兩者之間的同步均是由LabVIEW和NI TestStand編寫(xiě)的模塊實(shí)現(xiàn)的。我們?cè)O(shè)計(jì)NI顯示測(cè)試系統(tǒng)來(lái)測(cè)試平面顯示元件;這對(duì)于LCD屏幕測(cè)試堪稱是一個(gè)完美的解決方案。捕捉到的圖像經(jīng)由NI顯示測(cè)試系統(tǒng)處理，以檢測(cè)生成的圖案中所有可能存在的問(wèn)題。它包括逐像素點(diǎn)的驗(yàn)證以及復(fù)雜圖標(biāo)的顯示。NI顯示測(cè)試系統(tǒng)使得LCD屏幕測(cè)試變得輕松并且?guī)椭覀冊(cè)趦芍軆?nèi)就完成了整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)的搭建。

　　其他測(cè)試

　　下列所有其他的測(cè)試都是基于一塊連接到SCC系列便攜式、模塊化信號(hào)調(diào)理模塊的板卡(NI PCI-6040E多功能數(shù)據(jù)采集卡)完成的。

　　1.實(shí)時(shí)時(shí)鐘電池測(cè)試：我們將電池的兩極連至板卡的一個(gè)模擬輸入端，通過(guò)測(cè)量電池兩極的電壓來(lái)對(duì)實(shí)時(shí)時(shí)鐘電池進(jìn)行測(cè)試，由此我們可以來(lái)檢驗(yàn)電池的不足。

　　2. 揚(yáng)聲器性能測(cè)試：為了對(duì)揚(yáng)聲器進(jìn)行測(cè)試，我們?cè)趽P(yáng)聲器附近一個(gè)合適的位置放置了一個(gè)麥克風(fēng)，以收集揚(yáng)聲器的響應(yīng)。來(lái)自揚(yáng)聲器的輸入信號(hào)經(jīng)過(guò)了SCC-ICP01，它是一個(gè)SCC信號(hào)調(diào)理模塊，它可以對(duì)麥克風(fēng)信號(hào)進(jìn)行濾波并進(jìn)行適當(dāng)?shù)男盘?hào)調(diào)理。LabVIEW從數(shù)據(jù)采集卡模擬輸出一個(gè)多重音頻信號(hào)，并送至揚(yáng)聲器。而來(lái)自麥克風(fēng)的輸入信號(hào)連接至數(shù)據(jù)采集卡的一個(gè)模擬輸入通道進(jìn)行采集，以檢查揚(yáng)聲器在不同頻率下的響應(yīng)情況。同時(shí)將產(chǎn)生一個(gè)1KHz的標(biāo)準(zhǔn)的正弦波，并傳送至揚(yáng)聲器，并分析其產(chǎn)生的失真，LabVIEW將從獲取的波形中計(jì)算諧波失真總量。這個(gè)測(cè)試只是用到了一個(gè)簡(jiǎn)單的模擬輸出，一個(gè)模擬輸入和SCC信號(hào)調(diào)理模塊，避免了采用昂貴的帶有測(cè)聲計(jì)和發(fā)聲源的動(dòng)態(tài)信號(hào)分析儀。

　　3. 揚(yáng)聲器阻抗測(cè)試：使用SCC-RTD01，一個(gè)SCC信號(hào)調(diào)理模塊，為揚(yáng)聲器輸出恒定電流，通過(guò)測(cè)量電壓來(lái)測(cè)試揚(yáng)聲器的阻抗。通過(guò)對(duì)SCC繼電器模塊，SCC-RLY進(jìn)行編程，可以實(shí)現(xiàn)揚(yáng)聲器響應(yīng)測(cè)試和阻抗測(cè)試的連接切換。

　　4. 感應(yīng)磁鐵測(cè)試：感應(yīng)磁鐵用于在手機(jī)蓋翻開(kāi)時(shí)，自動(dòng)打開(kāi)背光燈。它將使用霍爾效應(yīng)傳感器和一個(gè)模擬輸入通道進(jìn)行測(cè)試。

　　5. 背光燈測(cè)試：背光燈的測(cè)試由LCD屏幕測(cè)試時(shí)LCD屏幕產(chǎn)生的電流消耗量所決定，它將檢驗(yàn)背光燈是否合格。

　　LCD測(cè)試系統(tǒng)

　　我們使用LabVIEW開(kāi)發(fā)LCD測(cè)試系統(tǒng)，使用NI TestStand執(zhí)行并同步所有的上述測(cè)試。只要有可能，我們就并行地進(jìn)行測(cè)試，以節(jié)省測(cè)試總時(shí)間。

　　測(cè)試夾具

　　測(cè)試夾具的要求非常復(fù)雜，它需要與小型帶狀連接器相連，但又不能損壞已裝配好LCD屏幕的手機(jī)蓋?？蛻舻墓こ處熢O(shè)計(jì)出一種巧妙的測(cè)試夾具，通過(guò)對(duì)相機(jī)，光源和鏡面的組合排布，以獲取測(cè)試系統(tǒng)所需的最佳圖像。該測(cè)試夾具可以描述為，操作員將手機(jī)的正面朝下，放入一個(gè)封閉的盒子，LCD屏幕將由盒子內(nèi)部的鏡子反射至相機(jī)，并發(fā)出合適的亮度。

　　操作員將手機(jī)放入測(cè)試夾具并加以固定，然后通過(guò)用戶界面交互操作來(lái)開(kāi)始測(cè)試。NI TestStand測(cè)試序列和LabVIEW程序?qū)?zhí)行手機(jī)上所有的測(cè)試，并彈出測(cè)試結(jié)果。如果測(cè)試失敗，則將產(chǎn)生一個(gè)針對(duì)特定部件的錯(cuò)誤代碼，以便返修后對(duì)該部件進(jìn)行進(jìn)一步追蹤。如果部件在某一個(gè)測(cè)試中失敗了，則在其他測(cè)試完成前，該部件都將因此被拒絕測(cè)試，以節(jié)省測(cè)試時(shí)間。

　　軟件模塊

　　上述系統(tǒng)所需的測(cè)試將由一組主要的測(cè)試模塊來(lái)完成，該測(cè)試模塊結(jié)合NI TestStand 和NI顯示測(cè)試系統(tǒng)完成LCD屏幕測(cè)試，執(zhí)行并同步所有其他的測(cè)試。我們盡可能進(jìn)行并行測(cè)試以節(jié)省總測(cè)試時(shí)間。每次都會(huì)根據(jù)切換和日期變化，為用戶生成測(cè)試報(bào)告，詳細(xì)說(shuō)明組件未通過(guò)測(cè)試的原因和數(shù)值，以作進(jìn)一步使用。

　　測(cè)試系統(tǒng)還能生成切換報(bào)告，追蹤所有發(fā)生問(wèn)題的組件，并提供測(cè)試系統(tǒng)的利用系數(shù)。所有生成的報(bào)告都被儲(chǔ)存在PXI系統(tǒng)的硬盤(pán)中。報(bào)表模塊允許用戶檢查并打印任意切換、任意時(shí)間段的歷史報(bào)告。我們還能根據(jù)客戶要求，提供未通過(guò)測(cè)試元件的統(tǒng)計(jì)圖和其他統(tǒng)計(jì)參數(shù)。

　　自動(dòng)化手機(jī)測(cè)試系統(tǒng)的主要特點(diǎn)

• 完全自動(dòng)化的系統(tǒng)
• 在一個(gè)系統(tǒng)中完美集成所有的功能測(cè)試
• 具備高可靠性，靈活性和開(kāi)放性，能滿足新測(cè)試的進(jìn)一步調(diào)整或合并需求
• 連續(xù)生產(chǎn)能力(分為三組八小時(shí)的工時(shí)，一周六天)
• 減少測(cè)試時(shí)間(每個(gè)元件減少約12秒，縮減幅度達(dá)到300%)

　　我們根據(jù)虛擬儀器的概念搭建了測(cè)試系統(tǒng)。通過(guò)選用美國(guó)國(guó)家儀器公司現(xiàn)成可用的硬件模塊，并結(jié)合使用LabVIEW和NI TestStand編寫(xiě)應(yīng)用程序，我們?cè)?2天的時(shí)間內(nèi)完成了功能測(cè)試系統(tǒng)的搭建，這遠(yuǎn)遠(yuǎn)超出了客戶的期望。