基于LabVIEW的BCU單板測(cè)試與診斷試驗(yàn)臺(tái)的開發(fā)
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4.4 試驗(yàn)開發(fā)架構(gòu)
本文引用地址：http://cafeforensic.com/article/153275.htm綜上所述，對(duì)于被測(cè)電路板，由于所要測(cè)試的路數(shù)之多、功能復(fù)雜，完成測(cè)試軟件的任務(wù)繁重，因此本系統(tǒng)對(duì)人機(jī)交互、試驗(yàn)測(cè)試、文件操作等采用分層結(jié)構(gòu)模塊化設(shè)計(jì)，由上層到下次逐步分解，并從底層到上層逐步執(zhí)行，并生成對(duì)應(yīng)子vi，供上層調(diào)用，下層由上層提供參數(shù)配置，并將結(jié)果數(shù)據(jù)返回給上層并進(jìn)行處理。最大程度的利用LabVIEW中的相互調(diào)用實(shí)現(xiàn)硬件的可重用與軟件的模塊化?！ ?/p>
4.5 現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試試驗(yàn)
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評(píng)論