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          基于HARQ的TD-LTE基站性能測(cè)試方案

          作者:張勤,白瑛,張永慧 時(shí)間:2013-08-15 來(lái)源:電子產(chǎn)品世界 收藏

            2測(cè)試平臺(tái)

          本文引用地址:http://cafeforensic.com/article/159019.htm

            2.1 硬件平臺(tái)

            性能測(cè)試目的在于模擬實(shí)際環(huán)境下的系統(tǒng)吞吐率,因此需要基站與測(cè)試儀器進(jìn)行聯(lián)調(diào)。硬件測(cè)試平臺(tái)包括:支持2天線接收的TD- eNB基站、基帶與信道仿真儀矢量MXG(主要用于上變頻)以及一臺(tái)四通道示波器(用于系統(tǒng)調(diào)試)。測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)如下:

            實(shí)時(shí)產(chǎn)生TD-上行信號(hào)并經(jīng)過(guò)特定信道模型下的衰落后,輸出的基帶I/Q信號(hào)經(jīng)過(guò)MXG上變頻分別送入基站的兩根接收天線?;径藢?duì)接收到的射頻信號(hào)進(jìn)行解調(diào)解碼,并以RS232C的串行通信方式將反饋結(jié)果(ACK/NACK指令)傳回至,PXB根據(jù)ACK/NACK指令實(shí)時(shí)調(diào)整RV因子重新發(fā)送數(shù)據(jù)包或選擇放棄當(dāng)前數(shù)據(jù)包(當(dāng)eNB發(fā)送ACK信號(hào)或是已達(dá)到最大重傳次數(shù))。最后基站端統(tǒng)計(jì)得到系統(tǒng)的吞吐率。

            如果測(cè)試環(huán)境確實(shí)希望使用外置信道仿真器,則只需使用N5182B/N5172B射頻即可完成上述系統(tǒng)的測(cè)試。典型的測(cè)量系統(tǒng)如圖3所示。

            2.2 軟件平臺(tái)

            PXB或N5182B/72B通過(guò)Signal Studio N7625B-WFP for TDD 軟件產(chǎn)生特定的參考測(cè)試信號(hào),并實(shí)時(shí)地調(diào)整編碼冗余因子。



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