對(duì)于較高頻率變化的輸入信號(hào)，AD536A的輸出就近似等于輸入信號(hào)的有效值RMS，存在直流誤差和波紋起伏。

直流誤差的大小取決于輸入信號(hào)的頻率和外接電容CAV的值。

輸出信號(hào)尚有波紋的起伏變化。有兩種方法可減小波紋： 一是增加外接電容ＣＡＶ的值。因?yàn)椴y的大小是反比于CAV值的，所以增加CAV的值可以有效地減小波紋的大小。對(duì)于測(cè)量低占空比的脈沖系列(這正是液晶屏采樣電流脈沖的特點(diǎn))的輸入信號(hào)，要求平均的時(shí)間常數(shù)R1CAV至少等于7倍輸入信號(hào)周期。例如脈沖序列是100Hz，取R1CAV≥100ms，CAV約為4uF。二是采用后接濾波器的方式，可以是一階或二階濾波器。這里要說(shuō)明的是，在使用中要由實(shí)驗(yàn)來(lái)選定CAV的值，因?yàn)橹绷髡`差是取決于CAV值的，而不受后接濾波器的影響。

4 TH-LCD Tester和3200型LCD測(cè)試儀的比較

在實(shí)際測(cè)量中，LCD驅(qū)動(dòng)電壓信號(hào)的頻率一般是128Hz，采樣周期為7.8ms。而LCD樣品的測(cè)量電壓波形持續(xù)的平均時(shí)間略小于10us，則樣品的電流采樣脈沖電壓的占空比η＜0.01，所以RMS的測(cè)量值約十幾倍于MAD的測(cè)量值。若待測(cè)的樣品是阻性負(fù)載，則RMS的測(cè)量值約等于MAD的測(cè)量值。

表2 兩種測(cè)試方法比較

表2是對(duì)兩種測(cè)試方法的比較。在這里，美國(guó)3200型LCD測(cè)試儀測(cè)量的是樣品的MAD值；TH-LCD Tester測(cè)量的是樣品的RMS值；待測(cè)的樣品是象素LCD和電阻；測(cè)試條件是驅(qū)動(dòng)電壓為3V，頻率為128Hz。

通過(guò)對(duì)以上測(cè)試數(shù)據(jù)的比較可知：

? MAD和RMS測(cè)試數(shù)據(jù)與電流采樣脈沖的形狀和占空比關(guān)系極大。
? 兩種測(cè)試儀對(duì)電阻R進(jìn)行MAD和RMS測(cè)試的數(shù)據(jù)基本相同。
? 兩種測(cè)試儀對(duì)單象素進(jìn)行MAD和RMS測(cè)試的數(shù)據(jù)相差約十幾倍。
? 由于LCD是對(duì)驅(qū)動(dòng)電壓的有效值響應(yīng)的，所以對(duì)于功耗電流，測(cè)量其有效值更有意義。