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          高功率LED開發(fā)之CFD模擬散熱解決方案

          作者: 時間:2011-11-19 來源:網(wǎng)絡 收藏
          測量介電層以計算熱阻

          本文引用地址:http://cafeforensic.com/article/178374.htm

            要計算垂直通過芯片的熱阻,須測量芯片黏合層、芯片墊片、TIM、片以及與基體間的介電層,每階層都各自擁有自己的導熱特性(表2),其中通過芯片,也就是接面到外部環(huán)境的熱阻Rja可透過方程式(1)、(2)加以計算:

            

            其中RJ-MS=10 ℃/W

            Rja代表熱能由芯片傳遞到外界的能力,也就是說,Rja的數(shù)值越低、效能越好,圖2分別顯示封裝結(jié)構的3D、2D橫切面圖,有助于了解整個路徑。

            

            圖2 上圖為星狀包裝的3D剖面圖,下圖為帶散熱片星狀封裝的2D剖面圖。

            進行數(shù)值分析/實驗結(jié)果分析

            安排在MCPCB上的LED封裝通常采用鋁擠方式做為基底,一百一十根鰭片的鰭片型散熱片則透過導熱膠帶黏貼在星形MCPCB背面,封裝以1.2瓦驅(qū)動,焊接點的溫度TMetalSlug則透過安排在封裝散熱塊上的熱電偶加以測量(圖3),測量只有在溫度到達穩(wěn)定時才進行。

            

            圖3 Moonstone LED封裝上的測量點

            表2為仿真模型結(jié)果與測量數(shù)據(jù)的比較,可視化仿真結(jié)果分別顯示在圖4,當仿真結(jié)果溫度高于測量溫度時,代表數(shù)值模型忽略部分的冷卻現(xiàn)象。

            表2 仿真結(jié)果與測量數(shù)據(jù)的比較

            

            

            圖4 上圖為LED星形封裝的可視化結(jié)果,下圖為詳細散熱片模型的MCPCB LED封裝可視化仿真結(jié)果。



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