對(duì)于電容傳感器的測(cè)量，芯片提供了非常靈活的連接方式，對(duì)比典型的連接方式如下所示：

　　在芯片中用戶可以自己選擇是用內(nèi)部集成的放電電阻進(jìn)行電容的測(cè)量，還是外接放電電阻來(lái)進(jìn)行測(cè)量，連接的方式如下圖所示：

　　導(dǎo)線補(bǔ)償：

　　在電容測(cè)量當(dāng)中，導(dǎo)線的寄生電容對(duì)于整個(gè)測(cè)量的影響是不能夠忽略的。尤其當(dāng)導(dǎo)線較長(zhǎng)的情況下，導(dǎo)線寄生電容的影響將會(huì)對(duì)測(cè)量結(jié)果有致命的影響。在Pcap01當(dāng)中，可以對(duì)傳感器的導(dǎo)線寄生電容進(jìn)行有效補(bǔ)償：

　　通過(guò)上面的傳感器連接的方式，可以補(bǔ)償連接傳感器兩端的導(dǎo)線寄生電容，消除導(dǎo)線對(duì)于測(cè)量結(jié)果的影響。那么如果想要進(jìn)行導(dǎo)線補(bǔ)償，3個(gè)在漂移模式的測(cè)量需要被進(jìn)行如下：

　　如果對(duì)于高穩(wěn)定性高精度的測(cè)量，我們推薦連接傳感器為漂移模式，來(lái)進(jìn)行完全補(bǔ)償。當(dāng)然如果導(dǎo)線非常短，而且對(duì)于測(cè)量性能溫度性能要求并不苛刻的情況下，也可以僅使用內(nèi)部補(bǔ)償，在接地和漂移模式下均可以應(yīng)用：