AVD的測量誤差在很大程度上取決于電路中R1、R2的匹配精度，若匹配誤差為δ=(R1-R2)/R2，δ1=(Rf-Ri)/Ri，則單純由電阻失配引起的相對誤差為△A VD=20 log(δ+1)，該系統(tǒng)占為0．6％。
3．2．3 共模抑制比KCMR的測量
閉合S1、S3、S4、S10、S12，S2→1、S11→3、S13→1，設(shè)信號源輸出電壓為VS，測得輔助運(yùn)放輸出電壓為VIO，則有：

KCMR的測量誤差在很大程度上取決于電路中待測運(yùn)放兩輸入端電阻的匹配精度，若匹配誤差為δ1，則單純由電阻失配引起的相對誤差為△KCMR=20log(δ1+1)，δ1=δ。

5 系統(tǒng)測量與分析
利用該系統(tǒng)測量OP07、μA741、LF256等，運(yùn)放器件的參數(shù)可在FPGA顯示器上顯示，后果表明，該測試儀測量精度高，符合設(shè)計要求，其中表1是測量OP07結(jié)果。

6 結(jié)束語
該系統(tǒng)完成了對運(yùn)放參數(shù)VIO(0～40 mV)、IIO(0～4μA)、AVD(60～120 dB)、KCMR的測量，(誤差分別為1％和±2 dB)，而且還實(shí)現(xiàn)了BWC的測量和自動量程轉(zhuǎn)換功能，其中掃頻信號的步進(jìn)頻率為1 kHz，電壓有效值為(2±0．1)V。系統(tǒng)通過FPGA提供鍵盤和顯示器等人機(jī)交互界面。能準(zhǔn)確實(shí)現(xiàn)對測量方式的控制及相關(guān)信息的顯示，且增加觸摸屏控制和打印測量結(jié)果功能，具有較好的可重復(fù)性和參考性。另外，在系統(tǒng)中通過對硬件的處理，消除了因使用繼電器由環(huán)路正反饋帶來的自
激效應(yīng)，進(jìn)一步提高了系統(tǒng)穩(wěn)定性。