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          NI 5665 與傳統(tǒng)儀器對(duì)比演示-設(shè)置與細(xì)節(jié)

          作者: 時(shí)間:2012-06-21 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          EVM測量

          在EVM測試中,使用 PXIe-5673矢量信號(hào)發(fā)生器生成一個(gè)LTE信號(hào)。兩個(gè)均使用如下設(shè)置:

          ·RBW = 30 kHz
          10 dB 衰減
          10 次平均
          關(guān)閉自動(dòng)峰值檢測

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          圖 10. 使用Agilent PXA 和 PXIe-進(jìn)行LTE EVM 測試。

          使用可編程的FPGA進(jìn)行在線處理

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          圖 11. 將信號(hào)處理移至FPGA上進(jìn)行可以節(jié)省時(shí)間。

          FlexRIO非常靈活,可以作為一個(gè)協(xié)處理器。在這一演示的設(shè)置中,所有來自PXIe-的數(shù)據(jù)都是在FPGA上進(jìn)行處理;而在之前的演示設(shè)置中,數(shù)據(jù)是在嵌入式處理器中進(jìn)行處理。這一特性的應(yīng)用非常廣泛,例如硬件處理的算法、協(xié)議實(shí)現(xiàn)以及實(shí)時(shí)激勵(lì)-響應(yīng)等應(yīng)用。

          測試時(shí)間比較(包含設(shè)置時(shí)間)

          前面所有的測試演示都只針對(duì)單次測量的時(shí)間。而在本項(xiàng)測試中,除了測量時(shí)間以外,還將考慮設(shè)置時(shí)間。這在包含多種測試標(biāo)準(zhǔn)的自動(dòng)化測試(例如功率放大器測試)之中很有必要。

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          圖 12. 若考慮設(shè)置時(shí)間,NI 的速度要快20倍。

          總結(jié)

          對(duì)于一個(gè)典型的測試設(shè)置來說,相對(duì)于使用Agilent PXA,NI PXIe-5665能夠提供相同或者更好的性能,而且在大多數(shù)測試中要快14-15倍。同時(shí),NI PXIe-5665的成本要比傳統(tǒng)臺(tái)式小得多。在下表中,對(duì)NI 5665以及相對(duì)應(yīng)的Agilent PXA價(jià)格進(jìn)行了比較。

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          在自動(dòng)化測試系統(tǒng)中,PXI機(jī)箱和MXI控制器的花費(fèi)通常被系統(tǒng)中的所有均攤。例如,如果一個(gè)測試系統(tǒng)中包含兩個(gè)NI PXIe-5665矢量信號(hào)分析儀,并插在一個(gè)PXIe機(jī)箱中,則機(jī)箱和控制器的費(fèi)用只會(huì)發(fā)生一次,因此總的投入要少于2 x $58,597。然而,如果一個(gè)測試系統(tǒng)中包含兩套PXA,則投入為2 x $87,745。

          注意:對(duì)于自動(dòng)化測試應(yīng)用來說,Agilent PXA和NI PXIe-5665在PC和所選編程語言(如LabVIEW、CVI、Visual Studio等)方面的投入是相同的,因此也沒有將其納入到比較當(dāng)中。


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