PN結(jié)二極管散粒噪聲測(cè)試方法研究
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通過具體測(cè)試對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行了驗(yàn)證。對(duì)比室溫和77 K時(shí)樣品噪聲，可以看出噪聲幅值降了一個(gè)數(shù)量級(jí)。為了降低低頻1／f噪聲的干擾，提取電流噪聲功率譜299～300 kHz高頻段的平均值。如圖2所示，從圖中可以看出高頻段是白噪聲。在室溫下，被測(cè)器件噪聲幅值在1．2×10-15V2／Hz左右；而77 K時(shí)，在相同偏置條件下測(cè)試了樣品的噪聲，電流噪聲幅值為1．5×10-16V2／Hz，可知熱噪聲被減少了90％左右，可見77 K時(shí)熱噪聲被明顯抑制。同時(shí)測(cè)量了低溫下系統(tǒng)的背景噪聲，它的噪聲幅值在4×10-17V2／Hz左右，而低溫下樣品的噪聲幅值為1．5×10-16V2／Hz，因此低溫下系統(tǒng)背景噪聲相對(duì)較小，可以忽略。該測(cè)試系統(tǒng)能滿足低溫下散粒噪聲測(cè)試的要求。
3 測(cè)試結(jié)果及討論
實(shí)驗(yàn)樣品選用Ln5391整流二極管。具體步驟為，分別設(shè)置V=0．5 V和V=1．0 V，測(cè)試器件在開啟電壓下的器件散粒噪聲。在功率譜提取時(shí)，取270～300 kHz頻率段電流噪聲功率譜的平均值，這樣既可以去除低頻1／f噪聲對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響，也可以通過平均值算法使分析的測(cè)試數(shù)據(jù)更加準(zhǔn)確。表1為被測(cè)二極管典型頻率點(diǎn)噪聲功率譜測(cè)試值。圖3為器件工作在0．5 V和1．0 V條件下，電流噪聲功率譜的變化情況。從圖中可以看出，隨著開啟電壓的升高，器件的散粒噪聲是變大的。本文引用地址：http://cafeforensic.com/article/194132.htm
4 結(jié)語
針對(duì)散粒噪聲難以測(cè)量的特點(diǎn)，本文提出了一種低溫散粒噪聲測(cè)試方法。在屏蔽環(huán)境下，將被測(cè)器件置于低溫裝置內(nèi)，有效抑制了外界電磁波和熱噪聲的干擾，采用背景噪聲充分低的放大器以及偏置器、適配器等，建立低溫散粒噪聲測(cè)試系統(tǒng)。應(yīng)用該系統(tǒng)對(duì)PN結(jié)二極管進(jìn)行噪聲測(cè)試，得到了很好的測(cè)試結(jié)果，并分析該器件散粒噪聲的特性。
本文的工作為器件散粒噪聲測(cè)試提供了一種新方法，并對(duì)PN結(jié)二極管散粒噪聲特性進(jìn)行了測(cè)試、分析。
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評(píng)論