我們針對(duì)內(nèi)部研發(fā)使用了新的 PXI 架構(gòu)功能測(cè)試系統(tǒng)，從電路板到組裝完成的產(chǎn)品，測(cè)試了 8 種不同的應(yīng)用。我們也使用這套系統(tǒng)在公司內(nèi)部以及不同的代工廠中進(jìn)行生產(chǎn)測(cè)試。系統(tǒng)需要執(zhí)行眾多的動(dòng)作，包括捕捉、儲(chǔ)存與分析 5 MHz 信號(hào)的波形，將電力與資料穿越皮膚，傳送到植入物中。我們使用聲音測(cè)量、電壓參數(shù)測(cè)量、在不同負(fù)載情況下的電流測(cè)量，同時(shí)通過(guò)數(shù)字 I / O及 GPIB與外部設(shè)備溝通。我們使用 USB 通訊設(shè)備來(lái)控制定制電路板上的繼電器、開(kāi)關(guān)與其他的硬件。系統(tǒng)也必須能夠準(zhǔn)確調(diào)整共振電路并測(cè)試 I2C 通訊。系統(tǒng)會(huì)自動(dòng)生成測(cè)試報(bào)告，同時(shí)通過(guò)網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行存貯，供日后統(tǒng)計(jì)分析之用。CPE Systems 公司是本地的 NI 系統(tǒng)聯(lián)盟商，他們協(xié)助我們開(kāi)發(fā)了 LabVIEW 與 NI TestStand 所需的定制界面與軟件開(kāi)發(fā)程序。

這套測(cè)試系統(tǒng)包含了 1 個(gè)具有 GPIB 接口的 PXI Pentium 4 控制器、NI PXI-4070 FlexDMM 卡、NI PXI-6052E 多功能數(shù)據(jù)采集 (DAQ) 卡，以及 NI PXI-5112 高速數(shù)字化儀。DAQ 卡、FlexDMM 卡與高速數(shù)字化儀會(huì)提供測(cè)量混合信號(hào)與信號(hào)開(kāi)關(guān)開(kāi)關(guān)所需的所有數(shù)字輸入與輸出。RS232 通訊設(shè)備控制會(huì) 1 個(gè)調(diào)節(jié)放大器，而 USB 則控制另 1 個(gè)定制接口卡。這套新系統(tǒng)比以前所有的測(cè)試系統(tǒng)更輕巧，可以節(jié)省寶貴的產(chǎn)線空間。PXI 平臺(tái)意味著這套系統(tǒng)具有靈活、維修容易、輕松更新的優(yōu)點(diǎn)。

創(chuàng)造具有靈活的軟件架構(gòu)

我們使用 NI LabVIEW 與 NI TestStand 開(kāi)發(fā)靈活的軟件架構(gòu)，以解決目前及未來(lái)的測(cè)試需求。這套軟件的功能眾多，能夠測(cè)試不同版本的產(chǎn)品，以及開(kāi)放式與封閉式硬件。使用 NI TestStand，我們可以利用商業(yè)可用的測(cè)試執(zhí)行功能來(lái)節(jié)省開(kāi)發(fā)時(shí)間。

使用定制化的操作界面，操作員可以登陸、載入選出的測(cè)試序列，然后監(jiān)控測(cè)試過(guò)程。界面也會(huì)提供即時(shí)資料更新給操作員、生成測(cè)試報(bào)告，然后將所有的測(cè)試資訊記錄到資料庫(kù)中，供日后分析之用。我們?cè)?LabVIEW 中撰寫(xiě)個(gè)別的測(cè)試，這也可以節(jié)省開(kāi)發(fā)時(shí)間，因?yàn)槲覀儞碛旋嫶蟮暮瘮?shù)庫(kù)可以測(cè)量、與硬件連接、分析結(jié)果，以及顯示。通過(guò)模塊化操作界面進(jìn)行序列控制，并將其與個(gè)別測(cè)試模塊分開(kāi)，我們便能將開(kāi)發(fā)的成果使用于更多有類(lèi)似測(cè)試需求的產(chǎn)品上。以統(tǒng)一的格式記錄所有的數(shù)據(jù)，我們的研發(fā)與生產(chǎn)工程師就能進(jìn)行分析并找出趨勢(shì)，并制作生產(chǎn)收益的報(bào)告。他們也會(huì)使用數(shù)據(jù)分析失敗原因，并在設(shè)備制造的過(guò)程中找出待改進(jìn)之處。記錄中擁有所有的測(cè)試資料，包含使用的序列、參數(shù)、測(cè)試儀器的校正日期、測(cè)試時(shí)間，以及產(chǎn)品的通過(guò) / 失敗狀態(tài)。

NI TestStand 成果斐然

新的功能測(cè)試系統(tǒng)協(xié)助我們?cè)诰o迫的時(shí)間壓力下完成工作，將新產(chǎn)品的設(shè)計(jì)從概念階段帶入制造階段。NI TestStand 為我們的 LabVIEW 測(cè)試模塊制造了一個(gè)模塊化、可重復(fù)使用的測(cè)試架構(gòu)，NI TestStand 對(duì)我們來(lái)說(shuō)非常實(shí)用。從專(zhuān)業(yè)的角度來(lái)看，我們現(xiàn)在可以在前所未有的短時(shí)間內(nèi)就開(kāi)發(fā)完成測(cè)試系統(tǒng)，因?yàn)榕c軟硬件開(kāi)發(fā)有關(guān)的大部分風(fēng)險(xiǎn)都被移除了。我們初期的訓(xùn)練投資成本也因?yàn)殚_(kāi)發(fā)這個(gè)專(zhuān)業(yè)的時(shí)間縮短，而且收回了成本。在未來(lái)的開(kāi)發(fā)中，因?yàn)槲覀兊墓こ處熞呀?jīng)習(xí)慣使用這些工具，所以我們預(yù)期開(kāi)發(fā)的時(shí)間會(huì)縮短 30 %。