這種情況下，AD7879 設(shè)置為從機(jī)轉(zhuǎn)換模式，并且僅測量半個(gè) 周期。當(dāng) AD7879 完成轉(zhuǎn)換時(shí)，產(chǎn)生一個(gè)中斷，主處理器重 新設(shè)置 AD7879 以測量第二個(gè)半周期，并且改變 AD7879 GPIO 的值。第二轉(zhuǎn)換結(jié)束時(shí)，兩層的測量結(jié)果均存儲在器件 中。

　　旋轉(zhuǎn)可以通過一個(gè)方向上的同時(shí)縮放和一個(gè)傾斜捏合來模 擬，因此檢測旋轉(zhuǎn)并不困難。挑戰(zhàn)在于區(qū)別旋轉(zhuǎn)是順時(shí)針 (CW)還是逆時(shí)針(CCW)，這無法通過上述過程來實(shí)現(xiàn)。為了 檢測旋轉(zhuǎn)及其方向，需要在兩層(有源層和無源層)上進(jìn)行測量，如圖 8 所示。圖 7 中的電路無法滿足之一要求，圖 9 提出了一種新的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)。

　　圖 8. 順時(shí)針和逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)時(shí)的電壓測量

　　圖 9所示的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)實(shí)現(xiàn)了如下功能：

　　半周期 1：電壓施加于Y層，同時(shí)測量(VY+ – VY–)、VX–和 VX+。每完成一個(gè)測量，AD7879 就會(huì)產(chǎn)生一個(gè)中斷，以 便處理器改變GPIO配置。

　　半周期 2：電壓施加于X層，同時(shí)測量(VX+ – VX–)、VY–和VY+。

　　圖 9 中的電路可以測量所有需要的電壓來實(shí)現(xiàn)全部性能，包 括：a)單點(diǎn)觸摸位置;b)縮放、捏合、旋轉(zhuǎn)手勢檢測和量化; c)區(qū)別順時(shí)針與逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)。用兩點(diǎn)觸摸手勢來完成單點(diǎn)觸 摸操作時(shí)，可以估計(jì)手勢的中心位置。

　　圖 9. 單點(diǎn)觸摸位置和手勢檢測的應(yīng)用圖

　　實(shí)用提示

　　輕柔手勢產(chǎn)生的電壓變化相當(dāng)微細(xì)。通過放大這種變化，可 以提高系統(tǒng)的魯棒性。例如，可以在屏幕的電極與 AD7879 的引腳之間增加一個(gè)小電阻，這將能提高有源層的壓降，但 單點(diǎn)觸摸定位精度會(huì)有所下降。

　　另一種方法是僅在低端連接上增加一個(gè)電阻，當(dāng) X 層或 Y 層 為有源層時(shí)，僅檢測 X–或 Y–電極。這樣就可以應(yīng)用一定的 增益，因?yàn)橹绷髦迪喈?dāng)?shù)汀?/P>

　　ADI公司有許多放大器和多路復(fù)用器可以滿足圖 6、圖 7 和圖 9 所示應(yīng)用的需求。測試電路使用AD8506 雙通道運(yùn)算放大器和ADG16xx 系列模擬多路復(fù)用器;多路復(fù)用器的導(dǎo)通電阻很 低，采用 3.3 V單電源供電。

　　結(jié)束語