EDA與測試軟件連結(jié)而改善設(shè)計程序的方法，就是提供更豐富的測量功能?；旧?，EDA工具將透過行為模式（Behavioral Model）預(yù)測全新設(shè)計的行為?？上У氖?，固定模式的設(shè)計均是透過測量準(zhǔn)則進(jìn)行檢驗，與檢驗最終產(chǎn)品所用的測量準(zhǔn)則大不相同，因此難以整合已模擬與已測量的資料。目前業(yè)界正朝向“從設(shè)計到測試共用單一工具鏈”的一條鞭方法，讓工程師可儘早將測量作業(yè)帶入設(shè)計流程。

　　明導(dǎo)國際（Mentor Graphics）副總裁兼系統(tǒng)層級工程部門經(jīng)理Serge Leef表示，在銜接EDA工具與測試軟件之后，工程師可于產(chǎn)品開發(fā)期間同時設(shè)計測試工作臺，并于設(shè)計程序中儘早獲得測試報告。由于工程師能同時進(jìn)行開發(fā)與測試結(jié)果，而不是像以前必須依序完成作業(yè)，因此能大幅縮短設(shè)計周期。

　　先以行動電話的多重模式射頻（RF）功率放大器（PA）為例，此類元件的傳統(tǒng)設(shè)計方式，即使用如AWR Microwave Office的RF EDA工具。透過EDA環(huán)境，工程師可透過模擬作業(yè)而取得RF特性參數(shù)，如效率、增益、1dB壓縮點（Compression Point）等，但最終產(chǎn)品所必須滿足的RF測量準(zhǔn)則，卻又是專為行動電話標(biāo)準(zhǔn)（如全球行動通訊系統(tǒng)/增強數(shù)據(jù)率演進(jìn)（GSM/EDGE）、寬頻分碼多工 （WCDMA）、長程演進(jìn)計畫（LTE））所建立。

　　在此之前，因為測量復(fù)雜度的不同，往往須實際測量DUT，才能透過衡量標(biāo)準(zhǔn)（如LTE錯誤向量幅度（EVM）與鄰近通道洩漏比（ACLR））的“標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格”而取得測量資料。但現(xiàn)在由于EDA軟件與自動化軟件可銜接，讓工程師可于模擬裝置上建構(gòu)EDA環(huán)境，進(jìn)而使用完整的測量演算法。也因為如此，工程師在設(shè)計初期即可找出復(fù)雜產(chǎn)品或系統(tǒng)相關(guān)的問題，亦等于縮短設(shè)計時間。