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          ARM的未來低功耗系統(tǒng)設(shè)計發(fā)展之路

          作者: 時間:2012-09-29 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
          5,255); TEXT-ALIGN: left; orphans: 2; widows: 2; -webkit-text-size-adjust: auto; -webkit-text-stroke-width: 0px"> 大部分系統(tǒng)都有一些不需要高速運行的任務(wù),只需要完成它們就可以了。一般會由于某一原因而保持這些任務(wù)處于工作狀態(tài),因此,系統(tǒng)不能簡單的接通,讓它們工作,然后,再次關(guān)斷。有針對減小這些任務(wù)的泄漏功耗而采取的節(jié)能方法。

          展示了當(dāng)模塊工作在較長的時鐘周期中時,您可以在時鐘轉(zhuǎn)換期間關(guān)掉組合邏輯電源。如果時序正確,保持時間之后關(guān)掉供電,在邏輯需要傳播新狀態(tài)時再恢復(fù)供電,這樣不會改變寄存器中的序列。根據(jù)某些信息來源,這一方法能夠把泄漏減小25倍。由于邏輯電源網(wǎng)絡(luò)實際上成為自己的信號通路,因此,這一“子時鐘電源選通”(圖2 )方法會增加一些晶體管,增大動態(tài)功耗,當(dāng)然也會增加時序收斂的復(fù)雜度。但是,在電路中降低了25倍,這的確是非常重要的方法。

          圖2.極技術(shù),例如,子時鐘電源選通,近/亞閾值工作等,實現(xiàn)了拉低曲線的新方法。

          這就帶來了怎樣降低寄存器本身泄漏的問題,這涉及到在時鐘轉(zhuǎn)換期間無法進行電源選通的其他電路。Muller說,研究了VDD非??拷踔恋陀赩t。近閾值和亞閾值工作都能夠使電路保持在低速工作,同時有效降低泄漏。但是都帶來了復(fù)雜的問題。

          還沒有很好的定義什么是近閾值工作。在傳統(tǒng)的MOSFET模型中,晶體管有三種不同的工作模式。飽和模式,此時,VDD和VSS明顯大于Vt。對于邏輯,這是正常的ON模式。亞閾值模式,此時,VGS低于Vt,這是傳統(tǒng)的OFF模式,簡單模型表示出只有一些很小的泄漏電流從源極流向漏極。在這兩種模式之間是第三種模式,通常稱為線性或者歐姆模式,VGS接近Vt。在這種模式中,假設(shè)MOSFET的行為與柵極壓控電阻相似。

          采用目前的短溝道技術(shù),線性和飽和模式之間的區(qū)別并不明顯。IMEC業(yè)務(wù)開發(fā)執(zhí)行副總裁Ludo Deferm評論說:“數(shù)字設(shè)計人員希望能夠精確的把閾值電壓控制在0.3至0.35 V之間,而工作點正好在這之上。在這一點,短溝道MOSFET已經(jīng)處于電子速度飽和,行為表現(xiàn)與其飽和特性非常接近,但是電流明顯降低。較低的電流有可能會使邏輯速度降低幾個數(shù)量級。雖然速度慢了,但是,傳統(tǒng)的邏輯電路能夠繼續(xù)保持工作,與較高電壓時相比,每次操作消耗的能量降低了幾個數(shù)量級??傊谶@種模式中,可以在很長一段時間周期內(nèi)或者在循環(huán)之間保持寄存器的狀態(tài)不變。這種近閾值工作也可以用于連續(xù)工作系統(tǒng),以節(jié)省能耗。Muller描述了一種自足的堆棧管芯裝配,它包括太陽能電池、普通電池,工作在快速運行和電源關(guān)斷模式下的DSP管芯,以及近閾值CPU管芯,所有這些都在一個有源基底上。

          近閾值工作會遇到很多難題。很明顯,應(yīng)用程序必須要容忍性能的大幅度降低。而Deferm提醒說,還有其他引起很大變數(shù)的問題。工藝、供電電壓、溫度變化等都會對晶體管行為產(chǎn)生很大的影響。為減小這些變化的影響,芯片設(shè)計人員不僅要依靠其代工線工程師來保持Vt不變,而且,還需要把管芯使用點電壓穩(wěn)壓器靠近低電壓電路放置,以減小VDD的變化和瞬變。

          設(shè)計人員如果希望更接近Vt,則需要采用更極端的方法。很多研究人員都建議邏輯電路設(shè)計使用差分信號和穿通晶體管邏輯,以及用作探測器的傳感放大器,這些都有助于減小各種變化的影響。但是這類技術(shù)的應(yīng)用畢竟是有限的。IMEC首席科學(xué)家Praveen Raghavan指出:“您可以通過定制設(shè)計流程,在隔離模塊中使用低電壓差分技術(shù)。但是,芯片設(shè)計團隊仍然需要傳統(tǒng)的時序分析方法。工具則無法支持這類電路?!?/P>

          亞閾值工作

          Muller說,在低電壓上的興趣并不會止于Vt。在亞閾值區(qū),MOSFET源極至漏極電流繼續(xù)響應(yīng)VGS。但是,這一電流現(xiàn)在非常小——泄漏電流,其響應(yīng)會非常慢。而且,在某些情況下,特別是在必須保持?jǐn)?shù)據(jù)同時要節(jié)省能耗的系統(tǒng)中,可以讓VDD低于Vt來工作。對于邏輯設(shè)計人員,這是尚未開發(fā)的領(lǐng)域,只有很少的專業(yè)模擬專家有所涉及。

          Raghavan說:“對于正常的體晶體管,通過亞閾值工作,可以讓能耗降低十倍。但是性能降低了100到1000倍,工藝變化的影響會非常大?!倍鴉inFET的出現(xiàn)會有所改變,Raghavan建議,“我們希望finFET能夠讓我們更好的控制Vt,亞閾值工作對性能造成的影響會小很多,可能只有50倍?!眮嗛撝倒ぷ麟m然可能一直需要進行定制設(shè)計,但是至少會有較為廣泛的應(yīng)用。

          亞時鐘電源選通和近閾值或者亞閾值工作為CMOS電路超低泄漏工作開辟了新



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