DAC/比較器架構(gòu)與集成ADC優(yōu)勢(shì)比較
本章節(jié)列舉了DAC/比較器架構(gòu)和集成ADC相比所具備的優(yōu)勢(shì)。所討論的應(yīng)用電路既常見又簡(jiǎn)單,也存在一些共性問題。
首先,考慮采用低成本方法實(shí)現(xiàn)電力線電壓跌落、浪涌以及瞬態(tài)檢測(cè)和故障記錄。理想的設(shè)計(jì)是采用墻上設(shè)備監(jiān)測(cè)電力線異常,并將每次異常發(fā)生的時(shí)間記錄到RAM中(電壓跌落和浪涌的持續(xù)時(shí)間可以從幾毫秒到幾小時(shí);瞬態(tài)可能短至10微秒)。監(jiān)視器必須記錄電力線完全失效的持續(xù)時(shí)間,因此,監(jiān)視器應(yīng)當(dāng)由電池供電。
傳統(tǒng)解決方案是采用控制器和ADC。由于轉(zhuǎn)換器連續(xù)對(duì)電力線電壓采樣,控制器需將每次采樣值與軟件中用戶設(shè)定的限制進(jìn)行比較,并將任何超出規(guī)定的狀態(tài)記錄到RAM。由于系統(tǒng)必須能夠追蹤到短至10μs的瞬態(tài)情況,ADC采樣間隔必須相當(dāng)短——保守估算時(shí)間可以長(zhǎng)達(dá)2.5μs。因此,控制器必須以1/2.5μs = 400ksps的速率進(jìn)行采樣處理。
如果軟件比較具有高效編碼并且ADC無需處理器干預(yù),系統(tǒng)每次采樣可執(zhí)行少于10條指令,這就要求處理器具有4MIPS的能力。這種執(zhí)行能力并不適合采用電池供電(圖1)。需要考慮用模擬方法對(duì)輸入瞬態(tài)偏離進(jìn)行響應(yīng),用以替代連續(xù)跟蹤方案。
在這種情況下,DAC/比較器替代方案提供了幾個(gè)明顯優(yōu)勢(shì)。需要4個(gè)DAC和4個(gè)比較器(或一片MAX516),后面連接一個(gè)4路設(shè)置/復(fù)位觸發(fā)器。一組DAC/比較器/FF監(jiān)測(cè)高瞬態(tài)電壓,一組監(jiān)測(cè)低瞬態(tài)電壓,一組用于監(jiān)測(cè)電網(wǎng)跌落,一組用于監(jiān)測(cè)浪涌(圖2)。瞬態(tài)電壓直接耦合到比較器,連接到電壓跌落和浪涌監(jiān)測(cè)比較器的輸入首先要進(jìn)行整流和濾波,以獲得電網(wǎng)電壓的平均值??稍谲浖姓{(diào)整到合適的rms。
系統(tǒng)每T秒進(jìn)行采樣并對(duì)觸發(fā)器復(fù)位,此處T為瞬態(tài)記錄時(shí)間分辨率(也許為60s)。高、低瞬態(tài)電平DAC用于設(shè)置所要求的門限。電壓跌落和浪涌DAC在每T秒間隔后進(jìn)行調(diào)整,采用逐次逼近技術(shù)產(chǎn)生高、低門限,以跟蹤目前平均值。
假設(shè)執(zhí)行逐次逼近以及其它任務(wù)的子程序具有1000條指令(保守估計(jì)),對(duì)于T=60s,CPU平均每秒執(zhí)行17條指令。執(zhí)行速率是0.00002MIPS,非常適合低功耗系統(tǒng),遠(yuǎn)遠(yuǎn)低于ADC方案的4MIPS。為進(jìn)一步降低功耗,控制器可在大部分時(shí)間內(nèi)處于“休眠”,僅在處理電力線異常時(shí)喚醒。將電壓比較從軟件方式轉(zhuǎn)換為模擬硬件方式,該電路大大降低了功耗、設(shè)計(jì)復(fù)雜性以及成本。
較低的故障檢測(cè)和診斷維護(hù)成本
打印頭控制、車輛控制以及許多其它機(jī)電應(yīng)用,需嚴(yán)格監(jiān)視內(nèi)部電壓和溫度以確定何時(shí)更換工作模式。極端情況下,這種反饋可使系統(tǒng)避免全部關(guān)斷自毀。例如,在必要時(shí)步進(jìn)電機(jī)控制器必須調(diào)整輸出MOSFET的柵極驅(qū)動(dòng)以避免線性工作時(shí)消耗過多功率。
監(jiān)測(cè)這些問題的傳統(tǒng)方法是采用ADC(圖8a)。處理器控制ADC進(jìn)行周期性測(cè)量,與控制處理保持時(shí)間常數(shù)一致。然后對(duì)結(jié)果的量化值進(jìn)行縮放后與軟件中的門限進(jìn)行比較。如果超出范圍,可觸發(fā)糾正動(dòng)作或者全部關(guān)斷系統(tǒng)。
另外一種方法是采用DAC/比較器組合(圖8b)。靜態(tài)DAC輸出建立關(guān)斷門限或比較器觸發(fā)值。當(dāng)溫度變化造成比較器觸發(fā),比較器會(huì)對(duì)處理器發(fā)出中斷來啟動(dòng)糾正動(dòng)作。必要時(shí),處理器還可以通過啟動(dòng)基于軟件的逐次逼近程序來確定極限溫度值。
表1 逐次逼近偽代碼
圖8 在這種情況下,用DAC和比較器(b)替換ADC(a)可降低系統(tǒng)成本、響應(yīng)時(shí)間以及軟件開銷
另一方面,為支持ADC,處理器在跳轉(zhuǎn)到關(guān)斷子程序之前必須輪詢ADC、輸入采樣值并與先前設(shè)定值進(jìn)行比較。這樣,DAC/比較器不僅節(jié)約成本,而且提供了比采用ADC的更快響應(yīng);同時(shí)還減小了處理器開銷。
時(shí)域反射計(jì)
最后,低成本、低功耗DAC/比較器組合(相對(duì)于ADC)在便攜式時(shí)域反射計(jì)(TDR)中非常實(shí)用,后者是一種用于檢測(cè)電纜的不連續(xù)性并可測(cè)量中間傳輸長(zhǎng)度的儀器。廉價(jià)的便攜式TDR隨著網(wǎng)絡(luò)電纜的增加變得非常普遍。
TDR工作原理類似于雷達(dá),沿著線纜發(fā)送一個(gè)主脈沖并監(jiān)測(cè)由開路、短路、或者其它電纜阻抗不連續(xù)產(chǎn)生的反射。發(fā)射脈沖及其反射波傳輸延時(shí)間隔大約為每英尺3.3ns,假設(shè)線傳輸速率為0.6c(光速的十分之六)。那么,在電子學(xué)上10ns時(shí)間分辨率可分辨出大約3英尺距離的不連續(xù)性。
接收到的脈沖幅度和發(fā)送脈沖幅度的比用于計(jì)算反射系數(shù)。知道反射系數(shù)和電纜阻抗就可以計(jì)算不連續(xù)阻抗,從這些信息可推斷出不連續(xù)的原因。同軸電纜在反射回路上對(duì)脈沖的衰減使其變得復(fù)雜,因此,軟件必須對(duì)此進(jìn)行補(bǔ)償,通常根據(jù)測(cè)量距離施加一個(gè)幅度修正。
評(píng)論