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          基于ARM的過采樣技術

          作者: 時間:2012-12-29 來源:網絡 收藏
            隨著科學技術的發(fā)展,人們對宏觀和微觀世界逐步了解,越來越多領域(物理學、化學、天文學、軍事雷達、地震學、生物醫(yī)學等)的微弱信號需要被檢測,例如:弱磁、弱光、微震動、小位移、心電、腦電等[1~3].測控技術發(fā)展到現在,微弱信號檢測技術已經相對成熟,基本上采用以下兩種方法來實現:一種是先將信號放大濾波,再用低或中分辨率的ADC進行采樣,轉化為數字信號后,再做信號處理,另一種是使用高分辨率ADC,對微弱信號直接采樣,再進行數字信號處理。兩種方法各有千秋,也都有自己的缺點。前一種方法,ADC要求不高,特別是現在大部分微處理器都集成有低或中分辨率的ADC,大大節(jié)省了開支,但是增加了繁瑣的模擬電路。后一種方法省去了模擬電路,但是對ADC性能要求高,雖然∑-△ADC發(fā)展很快,已經可以做到24位分辨率,價格也相對低廉,但是它是用速度和芯片面積換取的高精度[4],導致采樣率做不高,特別是用于多通道采樣時,由于建立時間長,采樣率還會顯著降低,因此,它一般用于低頻信號的單通道測量,滿足大多數的應用場合。而本文提出的方案,可以繞過上述兩種方法的缺點,利用兩者的優(yōu)點實現微弱信號的高精度測量。

            是提高測控系統(tǒng)分辨率的常用方法,已經被廣泛應用于各個領域。例如,過采樣成功抑制了多用戶CDMA系統(tǒng)中相互正交用戶碼接收機(A Mutually Orthogonal Usercode-Receiver,AMOUR)的噪聲[5~6],提高了光流估計(optical flow estimation,OFE)的精度[7],改善了正交頻分復用(OFDM)信號的峰-均比[8]等。但是,這些應用的前提是采樣前的信號幅值能與ADC的輸入范圍相當。而用ADC采集微弱信號時,直接使用提高不了精度,而且由于信號幅值遠小于ADC的輸入范圍,它的有效位數還會減小,使精度隨之下降。本文采用先疊加成形函數的方法,然后利用過采樣技術,解決了因為信號幅值小,而使過采樣失效的問題。本文還詳細分析了成形函數類型和幅值,以及過采樣率對分辨率的影響。

            1 過采樣技術分析

            1.1 過采樣原理

            過采樣是對待測數據進行多次采樣,獲取樣本數據,累計求和這些樣本數據,并對它們均值濾波,減小噪聲后最終獲得采樣結果。過采樣在一定條件下能夠提高信噪比(SNR),同時使噪聲減弱,從而提升測量分辨率。過采樣技術將提高到被的4倍,能過濾掉高于3fb的分量,用數字濾波器過濾fb~3fb的分量,最終有用分量被完全保存下來。若采取足夠多次采樣,則能重現原始信號。式(1)是過采樣的頻率要求

          基于ARM的過采樣技術


            式(1)中,Fo為過;n為希望增加的分辨率位數;fb為初始采樣頻率要求。

            1.2 過采樣與噪聲、分辨率的關系

            在提出過采樣與噪聲的對應關系之前,對量化噪聲作一簡單描述。量化誤差是由相鄰ADC碼的間距所決定,因此相鄰ADC碼之間的距離為

          基于ARM的過采樣技術

            式(2)中,N為ADC碼的位數;Vr為基準電壓。式(3)為量化誤差ed的關系式。

            奈奎斯特定理指出,如果被測信號的頻帶寬度小于采樣頻率的1/2,那么可以重建此信號。現用白噪聲近似描繪實際信號中的噪聲,在信號頻帶中的噪聲能量譜密度為

          基于ARM的過采樣技術

            式(4)中,e(f)為帶內能量譜密度;ea為平均噪聲功率;fs為采樣頻率。

          基于ARM的過采樣技術

            ADC量化噪聲的功率關系如式(5)所示。由于量化噪聲會引發(fā)固定噪聲功率,因此針對增加的有效位數能夠計算過采樣比

          基于ARM的過采樣技術

            式(6)中P為過采樣比;fs為采樣頻率;fm為輸入信號最高頻率。低通濾波器輸出端的帶內噪聲功率見式(7)。其中n2是濾波器輸出的噪聲功率

          基于ARM的過采樣技術

            由此可見,過采樣能減少噪聲功率卻又對信號功率不產生影響,在減小量化誤差的同時,能夠獲得與高分辨率ADC相同的信噪比,從而增加被測數據的有效位數。通過提高采樣頻率或過采樣比可提高ADC有效分辨率。


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