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          向FPGA內植入嵌入式軟核的電容在線測試電路

          作者: 時間:2014-01-18 來源:網絡 收藏
          Tahoma, Arial, sans-serif; font-size: 14px; text-align: center; ">向FPGA內植入嵌入式軟核的電容在線測試電路串行輸入方式,在W_CLK上升沿把數據位D7的一位數據串行輸入,當輸入40位后,用一個FQ_UD脈沖即可更新輸出頻率和相位。圖4為DDS硬件電路圖。

          本文引用地址:http://cafeforensic.com/article/226816.htm

          向FPGA內植入嵌入式軟核的電容在線測試電路

          其中,D0~D7為八位數據輸入端口,給內部寄存器裝入40位控制數據,本文采用串行輸入,所以只用到D7位與相連;CLKIN為外部參考時鐘輸入,本設計采用100M外部時鐘輸入;W_CLK為字輸入信號,上升沿有效;FQ_UD為頻率更新控制信號,時鐘上升沿確認輸入數據有效;VINP和VINN分別為內部比較器的正負輸入端;IOUT為內部DAC輸出端;IOUTB為“互補”DAC輸出端;AVDD和DVDD采用+5V供電。IOUT輸出信號經過濾波器后作為測試電路的激勵信號。

          4.測試結果與結論

          經過上述系統(tǒng)設計,試驗測得的結果如表1所示。

          向FPGA內植入嵌入式軟核的電容在線測試電路

          結果中*表示數據不停變化或者結果超出量程。

          通過上述實測值與標準值的比較可以看出本文設計的由控制的在線測試系統(tǒng)具有多量程自動選擇,測試精度高,使用方便等特點,測試范圍達到0.01μF~3μF.經理論分析和試驗證明,該設計具有很強的實用性和可靠性。

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