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          MCU CPLD變壓器測試系統(tǒng)設(shè)計

          作者: 時間:2013-12-18 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
          時調(diào)整,可先測得系統(tǒng)的頻率前一周期對應(yīng)的計數(shù)值Tc(以單片機系統(tǒng)的定時器時鐘周期為單位),然后根據(jù)每周波采樣點數(shù)(N),適時計算出每一采樣間隔計數(shù)值Tsj。

          本文引用地址:http://cafeforensic.com/article/227450.htm

          間隔計數(shù)值:

          Tsj=Tc/N (2)

          則以Tsj為周期進行采樣,即可實現(xiàn)采樣頻率的實時跟蹤,保證了交流等間隔采樣,為實現(xiàn)這一過程,通常采用的電路結(jié)構(gòu)為:來自電壓(流)互感器的電壓(流)經(jīng)過低通濾波器和跟隨器,經(jīng)過零比較器(可用LM339)整形成方波,經(jīng)光耦(如4N35)送到80C196KC的高速輸入接口 HS1.0利用方波的上升沿觸發(fā)高速輸入中斷,側(cè)得每個工頻周期計數(shù)值Tc。單片機由式(2)計算得到采樣間隔時間Tsj。以Tsj為時間間隔,設(shè)置軟件定時器中斷,在軟件定時器中斷中進行采樣間隔設(shè)置,主程序根據(jù)其確定啟動A/D的時間間隔,完成周期誤差的大大減少和采樣頻率的實時跟蹤。

          4 模塊設(shè)計

          明確了的主要作用后,我們在Max+Plus II軟件上用VHDL語言分別實現(xiàn)這些模塊功能,設(shè)計包括4個階段:設(shè)計輸入、設(shè)計處理、設(shè)計驗證和器件編程。VHDL主要用于描述數(shù)字系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)、行為、功能和接口。非常適用于可編程邏輯芯片的應(yīng)用設(shè)計。

          4.1 主要模塊進程

          系統(tǒng)檢測變壓器時,在正常初始化后,有鍵盤輸入時會要求運行按鍵響應(yīng)進程;CPLD根據(jù)所鍵入型號運行繼電器控制進程,操作繼電器板,并上傳操作結(jié)果,在認為前述操作正常后,才會要求CPLD啟動對A/D控制的進程,模/數(shù)轉(zhuǎn)換結(jié)果會送給;MCU對轉(zhuǎn)換結(jié)果進行處理后,又會要求CPLD運行顯示進程,顯示結(jié)果LCD上。4.2 仿真

          以讀A/D結(jié)果(ReadOperation)進程為例進行仿真。

          ——進程名稱:ReadOperation

          ——敏感變量,RD

          ——輸出變量,DataBusIn(送到數(shù)據(jù)總線上)

          ——目的:讀操作

          ReadOperation:process(RD,Enlcd,En125Low,En125High,CSIF,CSIM)

          需要說明的是,信號變量在仿真時需聲明其初始值,本讀操作進程中的信號變量自會有其他進程(如片選進程)為其賦值,“”作為連接運算符,可將多個對象或矢量連接成位數(shù)更大的矢量,對ReadOperation進程編譯仿真的波形圖如圖3所示。

          MCU CPLD變壓器測試系統(tǒng)設(shè)計

          5 結(jié)語

          經(jīng)過現(xiàn)場試用得到實驗測試數(shù)據(jù),表1列出3臺BX1-34型變壓器的部分參數(shù)測試結(jié)果,其中I次空流代表原邊空載電流,空壓II12指二次繞組1和2端的空載電壓,其他類推,II次空壓為二次繞組的總空載電壓,滿載電壓指在二次繞組串接8Ω電阻時的電壓值。

          MCU CPLD變壓器測試系統(tǒng)設(shè)計

          結(jié)果滿足《信號維護規(guī)則)中對變壓器“輸入額定電壓,二次端子電壓空載時其誤差不大于端子額定電壓值的10%;容量為30-60VA的變壓器滿載時,其二次端子電壓不小于端子額定電壓值的85%”的規(guī)定。

          本次開發(fā)綜合考慮了MCU和CPLD的相互作用,采用了交流采樣技術(shù),認真考慮VHDL進程并行和CPLD的結(jié)構(gòu)特點,并應(yīng)用電路簡化的幾種技巧與方法,充分利用CPLD的硬件資源優(yōu)化電路,實現(xiàn)系統(tǒng)對穩(wěn)定性,精確度等方面的要求。


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