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          全新測試卡擴展了4500-MTS多通道I-V測試系統(tǒng)的功能并降低測試成本

          作者:電子設(shè)計應(yīng)用 時間:2004-02-11 來源:電子設(shè)計應(yīng)用 收藏
          儀器公司(NYSE: KEI)日前宣布,推出適用于4500-MTS多通道I-V測試系統(tǒng)的兩款全新的多通道源-測量測試卡,這兩款新品的操作量程都得到了擴展。對于4500-MTS PCI主機9個插槽中的任何一個,每一個4510-及4511-QIVC(Quad I-V卡)都可以提供4個源-測量通道,因此一共可以實現(xiàn)多達36個I-V測量通道。4500-MTS及其Quad I-V卡可以在很短的時間內(nèi)完成這些測量,而且成本僅為同樣的分立儀器系統(tǒng)的很小一部分。
          4500-MTS用于多頭(多DUT)生產(chǎn)測試環(huán)境的自動測試,如那些涉及到應(yīng)力測量、使用壽命測量、以及一般設(shè)備特性的環(huán)境。該系統(tǒng)通常的應(yīng)用情況為:利用其快速的源測量的性能產(chǎn)生I-V曲線,測量諸如MEMS以及電路保護二極管等DUT的電阻,以對其它無源和有源器件的特性。該系統(tǒng)作為多通道的電源也具有廣泛的用途,可以在器件(如RFIC以及光電IC)的功能測試中輸出電壓和電流或測量電壓和電流。吉時利以及其它公司的許多儀器都可以與4500-MTS搭配實現(xiàn)其I-V和電源供電的性能。
          應(yīng)用背景。4500-MTS可以解決生產(chǎn)商面臨的棘手的測量難題,它可以幫助生產(chǎn)商在不同的測試條件下,對多個器件進行測試或者對一個器件上的不同通道同時進行測試。通常情況下,一臺測試夾具上會加裝一打甚至更多的器件,而且要在每一臺設(shè)備的成千個源-測量測試點上采集電氣數(shù)據(jù)。在這些情況下使用多個獨立儀器的成本是非常高的,而且總線上的數(shù)據(jù)交流還會減慢數(shù)據(jù)采集的速度。

          與其它模塊化測試系統(tǒng)不同,4500-MTS多通道I-V測試系統(tǒng)具有低噪音和高電流源的特點,并可以同時在高靈敏度測量中保持良好控制環(huán)境。它有助于在不降低質(zhì)量目標和生產(chǎn)產(chǎn)量的前提下降低生產(chǎn)成本。

          產(chǎn)品詳情。4510或4511 Quad I-V卡的每一個通道都可以提供一個高功率電流源子通道、一個低功率電壓源子通道、以及一個用于讀取DUT對源激勵反應(yīng)的5-1/2位模擬-數(shù)字轉(zhuǎn)換器。4510型卡具有三個全刻度輸出量程,分別為±30mA、±100mA和±500mA。4511型卡具有的三個全刻度輸出量程分別為±100mA、±300mA和±1.0A。除此之外,這兩種卡是完全相同的,包括它們的±10VDC全刻度電壓源子通道。每一個卡上還有一個微控制器,運行實時操作系統(tǒng)及板上的測量存儲,因此測試次序中它可以自發(fā)的活動或通過觸發(fā)總線為源測量活動計時以實現(xiàn)與其它4500系列測試卡的同步工作。每一個子通道都具有機械繼電器以隔離輸出和測量DUT電路,因此實現(xiàn)電流源子通道和電壓源子通道之間的多路工作。
          這些測試卡擴展了早前4500型Quad I-V卡的功能。低噪音電壓源子通道的最大輸出已經(jīng)從5V增加到了10V。對這些子通道電流測量的靈敏度也提高到了10



          關(guān)鍵詞: Keithley 測試測量

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