傳統(tǒng)三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)配備最多的是觸發(fā)式測(cè)頭，用觸發(fā)式測(cè)頭測(cè)量物體時(shí)，測(cè)針以一定速度接觸物體表面，從而使測(cè)針的位置產(chǎn)生偏離，產(chǎn)生的電信號(hào)觸發(fā)測(cè)頭記錄一個(gè)物體表面測(cè)點(diǎn)的空間坐標(biāo)。由此帶來的第一個(gè)問題就是測(cè)量速度較慢。其原因在于，首先觸發(fā)式測(cè)頭的采點(diǎn)方式是非連續(xù)的，測(cè)頭在一次采點(diǎn)完成后需退回一段距離，讓測(cè)針歸位后才能進(jìn)行第二次采點(diǎn)。而且采點(diǎn)時(shí)接觸物體表面的速度不能太快，若測(cè)針接觸物體速度過快使得測(cè)針的位置偏離過大，則信號(hào)會(huì)被認(rèn)為是發(fā)生了碰撞而采點(diǎn)失敗。出于這個(gè)原因可以用掃描式測(cè)頭代替觸發(fā)式測(cè)頭，掃描式測(cè)頭采用的是連續(xù)采點(diǎn)方式，因此采點(diǎn)速度得到較大提升。限制測(cè)量速度的第二個(gè)原因在于，如果被測(cè)物體具有比較復(fù)雜的幾何形狀，那么測(cè)針需要變換若干次指向才能完成整個(gè)測(cè)量，并且測(cè)針的每個(gè)指向需進(jìn)行標(biāo)定。如果要克服這一不足，從而進(jìn)一步提高測(cè)量速度的話，需要給三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)配備高端的多軸旋轉(zhuǎn)掃描測(cè)頭，該項(xiàng)新技術(shù)能夠以連續(xù)方式高速掃描物體進(jìn)行采點(diǎn)。

　　接觸式測(cè)量所用的測(cè)針尖端一般為紅寶石球，測(cè)頭采點(diǎn)所得的空間坐標(biāo)為紅寶石球的球心位置。而測(cè)針與物體表面的實(shí)際接觸位置并非球心，所以物點(diǎn)的坐標(biāo)必須根據(jù)紅寶石球的半徑進(jìn)行補(bǔ)償。由此帶來了接觸式測(cè)量的第二個(gè)問題，即紅寶石球的半徑補(bǔ)償方向錯(cuò)誤。當(dāng)被測(cè)幾何特征較?。ㄖ睆?《 1mm）且采點(diǎn)密度較大時(shí)，采得點(diǎn)的順序會(huì)發(fā)生混亂，從而使球半徑補(bǔ)償方向產(chǎn)生錯(cuò)誤，造成獲得的幾何特征與實(shí)際不符（圖1）。

　　圖1 葉片出氣邊的半徑補(bǔ)償錯(cuò)誤

　　此外，由于物體表面存在一定不平度，同時(shí)紅寶石球的直徑要遠(yuǎn)大于表面不平度，導(dǎo)致測(cè)針無法測(cè)得物體表面的微小凹陷（圖2）。

　　圖2 紅寶石球測(cè)針無法測(cè)得物體表面的微小凹陷

　　接觸式測(cè)量的第三個(gè)問題在于被測(cè)物體的表面特性。如果被測(cè)物體表面比較柔軟，或精細(xì)易損，則不適合使用接觸式測(cè)頭。當(dāng)測(cè)針接觸物體表面后，輕則使之發(fā)生形變，產(chǎn)生較大誤差；重則損壞物體表面。

　　出于以上原因，光學(xué)測(cè)量與之相比就有著本質(zhì)上的優(yōu)勢(shì)。光學(xué)測(cè)量作為一種非接觸式測(cè)量方法，不使用接觸式測(cè)針進(jìn)行采點(diǎn)，而是利用了光的某方面特性來進(jìn)行測(cè)量。這樣就完全規(guī)避了紅寶石球的補(bǔ)償帶來的潛在問題，也使被測(cè)物體表面不再受到測(cè)針接觸帶來的影響。至于測(cè)量速度則取決于光學(xué)測(cè)頭的種類。但無論哪種測(cè)頭，其采點(diǎn)方式都是連續(xù)的。而且在采點(diǎn)過程中，光學(xué)測(cè)頭區(qū)別于接觸式測(cè)頭，接觸式測(cè)頭會(huì)因?yàn)榻佑|物體表面時(shí)速度過快而被認(rèn)為發(fā)生了碰撞，由于光學(xué)測(cè)頭完全不會(huì)遇到這個(gè)問題，因此進(jìn)一步提高了采點(diǎn)速度。

光學(xué)測(cè)頭的分類方法有很多，種類更是繁復(fù)。從測(cè)量原理上通?？梢苑譃楣草S測(cè)量和三角測(cè)量；從光源屬性上可以分為主動(dòng)光源和被動(dòng)光源；從光源維度上可以分為點(diǎn)光源、線光源和面光源；從光源色譜上又可以單色光源和白光源。共軸測(cè)量中常見的方法有兩種。其一是干涉法，它利用了光的波長特性，將一束光通過平面分光鏡（半透半反）分成兩束。一束由鏡面反射至參考平面，另一束則透射至被測(cè)物體表面。兩束光經(jīng)疊加后產(chǎn)生干涉條紋，干涉條紋的形式取決于物體的距離與物體表面的幾何特征。另一種是共焦法，從一個(gè)點(diǎn)光源發(fā)射的探測(cè)光通過透鏡聚焦到被測(cè)物體上，如果物體恰在焦點(diǎn)上，那么反射光通過原透鏡應(yīng)當(dāng)匯聚回到光源，這就是所謂的共焦。在反射光的光路上加上了一塊半反半透鏡，將反射光折向帶有小孔的擋板，小孔位置相當(dāng)于光源。光度計(jì)測(cè)量小孔處的反射光強(qiáng)度，強(qiáng)度最大時(shí)物體即位于透鏡焦點(diǎn)平面，這樣即可測(cè)得物點(diǎn)的位置。三角測(cè)量則是利用了光源、像點(diǎn)和物點(diǎn)之間的三角關(guān)系來求得物點(diǎn)的距離。我們以點(diǎn)光源舉例（圖3）：

　　圖3 三角測(cè)量示意圖

　　光源向物體發(fā)射一個(gè)光點(diǎn)，光點(diǎn)到達(dá)物體后經(jīng)過反射在傳感器上得到一個(gè)像點(diǎn)；光源、物點(diǎn)和像點(diǎn)形成了一定的三角關(guān)系，其中光源和傳感器上的像點(diǎn)的位置是已知的，由此可以計(jì)算得出物點(diǎn)的位置所在。有的測(cè)頭以線光源來替代點(diǎn)光源，將一條由若干光點(diǎn)組成的光條紋投射到物體表面（圖4），傳感器上接收到的則是二維畸變光線圖像，光線的畸變形狀取決于每個(gè)物點(diǎn)的位置，這樣的線光源測(cè)頭可以大幅提高采點(diǎn)的速度。