系統(tǒng)工作流程

　　系統(tǒng)工作流程描述如圖3。

　　操作人員啟動系統(tǒng)后，系統(tǒng)開始自檢，發(fā)現(xiàn)故障，則系統(tǒng)復位并自動斷電。首先是各功能模塊的初始化，接下來是由上位機PXI-3800往各個下位機發(fā)送動作指令，接受指令后CPCI-7434模塊輸出對應的電平信號控制繼電器完成測試電路中信號傳輸通道的切換，CPCI-6208模塊輸出對應的模擬信號經(jīng)由功放模塊放大后作為測試電路需要的電壓源及電流源。與此同時SMX-2042執(zhí)行相應的測試動作，如果需要，高低溫系統(tǒng)會提供相應的環(huán)境溫度。經(jīng)過一定延時，系統(tǒng)開始采集數(shù)據(jù)，其中包括SMX-2042的測試結果及溫度傳感器反饋的芯片真實環(huán)境溫度。采集的數(shù)據(jù)實時地顯示到輸出終端并保存到非易失性存儲器中。此時系統(tǒng)會自動檢查是否還有待執(zhí)行的指令，如有則轉入下一輪循環(huán)，否則系

統(tǒng)復位、結束。

　　系統(tǒng)優(yōu)缺點分析

　　優(yōu)點：
　　1．成本低。通常搭建一套標準配置的測試系統(tǒng)僅需要約30萬人民幣，成本優(yōu)勢非常明顯。
　　2．測試精度高。依靠輔助電路，它的測試精度可以達到：電壓mV級，電流nA級，電阻mΩ級，滿足當前大多數(shù)產(chǎn)品的測試精度要求。
　　3．易于開發(fā)、維護和升級。由于陵華計算機已經(jīng)提供了功能強大的數(shù)據(jù)采集、處理模塊，因此測試系統(tǒng)的硬件設計極大地簡化了。而且該系統(tǒng)采用Labview圖形化開發(fā)環(huán)境，設計者無須編程經(jīng)驗也可編寫出高效的測試程序。該系統(tǒng)采用PXI工業(yè)總線，用戶可方便升級。

　　缺點：
　　1． 測試速度低，不適用于大批量測試。由于系統(tǒng)沒有配置機械化上料機構，而是采用操作工人手動上料的方式，對操作工人的防靜電保護及操作技能要求較高，測試時間相對較長。 Labview軟件編譯環(huán)境也是影響測試時間的原因之一，相比Visual C++編寫的程序，執(zhí)行時間要長很多。
　　2． 抗干擾能力差。由于系統(tǒng)沒有達到高度集成，有一部分電路缺少屏蔽保護，干擾信號尤其是噪聲極可能成為系統(tǒng)誤差的主要來源，因此采取有效的抗干擾措施將非常重要。

　　本文應用凌華工業(yè)計算機搭建IC半自動測試平臺，可對當前大部分半導體產(chǎn)品進行小批量測試，相比傳統(tǒng)測試系統(tǒng)，它大大地降低了成本，保證了產(chǎn)品測試精度，此外，還具有維護簡單，容易升級的優(yōu)點，為IC測試開發(fā)人員提供了可靠的設計依據(jù)。

參考文獻
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