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          測試3G手機(jī)的DigRF

          作者: 時(shí)間:2012-07-07 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

            DigRF準(zhǔn)備替換RF與基帶半導(dǎo)體器件之間的兩種主要形式的數(shù)據(jù)通信路徑:模擬信令,以及針對具體設(shè)計(jì)的私有數(shù)字信令(并行或串行)。MIPI(移動(dòng)業(yè)處理器接口)聯(lián)盟正在致力于采用(數(shù)字射頻)標(biāo)準(zhǔn),用一種基于分組的公共數(shù)字串行接口代替各種類型的I/Q(同相位/正交相位)信令接口。一個(gè)MIPI聯(lián)盟工作小組已開發(fā)了用于2.5G和標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)范,預(yù)計(jì)其后版本會(huì)增加支持4G標(biāo)準(zhǔn)的數(shù)據(jù)流量。

            使用這種標(biāo)準(zhǔn)接口可以使設(shè)計(jì)者在元件選擇時(shí)有更多的靈活性。例如,一名設(shè)計(jì)者可能準(zhǔn)備從某家供應(yīng)商采購一種高價(jià)的基帶IC(可能是中最貴的芯片之一),而從其它供應(yīng)商處購買RF、電源管理和其它器件。然而,DigRF技術(shù)在促成通用產(chǎn)品的極端靈活性時(shí)也帶來了挑戰(zhàn),會(huì)影響到你的測試策略。

            在RF接收測試期間,測試工程師的主要目標(biāo)還與DigRF以前相同,即捕獲I/Q信息,對獲得的數(shù)據(jù)集執(zhí)行定制的數(shù)字信號處理算法,并記錄參數(shù)化結(jié)果,以確定設(shè)備是否合格。但與前代RFIC相比較,DigRF器件可能給生產(chǎn)測試增加大量開銷。尋找盡可能減少這種開銷的方式,就成為工程師在設(shè)計(jì)自動(dòng)化生產(chǎn)測試系統(tǒng)時(shí)所面臨的主要挑戰(zhàn)。

            理解接口

            DigRF 定義了實(shí)現(xiàn)接口所需要的最小信號數(shù);一個(gè)基本的配置只需要6根線(圖1)。RxData/TxData信號在一個(gè)分組協(xié)議中傳送I/Q數(shù)據(jù)以及控制與狀態(tài)消息的數(shù)字表示。

          基本的DigRF手機(jī)配置只需要6根線

          圖1. 基本的DigRF手機(jī)配置只需要6根線。

            以DigRF信號傳輸?shù)臄?shù)據(jù)被封裝在協(xié)議包或稱幀內(nèi)。每個(gè)幀都包括三部分:同步(sync),頭(header),與有效載荷(payload)(圖2)。每個(gè)包的開始都有相同的16 bit同步序列,數(shù)字接收電路用它對每個(gè)幀做實(shí)時(shí)選通相位的對準(zhǔn)。

            接下來的8個(gè)位是頭,它定義有效載荷的作用與內(nèi)容。頭本身由三部分構(gòu)成:3位表示有效載荷的大小,4位描述LCT(邏輯信道類型),1位表示CTS(清除發(fā)送)信號。

          圖 2. DigRF 數(shù)據(jù)幀開始于一個(gè)16 bit同步序列,后面是一個(gè)8 bit頭和I、Q數(shù)據(jù)。

            不同數(shù)據(jù)包的有效載荷部分有大小變化,從而產(chǎn)生不同級別的編碼開銷。LCT定義了有效載荷中包含的內(nèi)容,以及可分類為控制數(shù)據(jù)或I/Q數(shù)據(jù)的內(nèi)容。CTS允許在RF發(fā)射期間,由RF設(shè)備控制來自基帶的數(shù)據(jù)流。
          幀中余下的N位就包含了要傳輸?shù)膶?shí)際數(shù)據(jù)。例如,在DigRF 3G的非分集模式下,RxData幀將使用數(shù)據(jù)信道C和256 bit有效載荷,包含8 bit的交替I數(shù)據(jù)和Q數(shù)據(jù)。

            DigRF 3G支持?jǐn)?shù)字傳輸下的三種時(shí)序模式,具體取決于被傳輸RF信息的類型(表1)。DigRF標(biāo)準(zhǔn)還支持三種公共的輸入基準(zhǔn)時(shí)鐘頻率(19.0 MHz、26.0 MHz和38.4 MHz);時(shí)鐘通過SysClk信號送至基帶。與速度模式無關(guān),DigRF處理器會(huì)用一個(gè)本地的FIFO緩沖管理數(shù)據(jù)流,當(dāng)傳輸幀時(shí)會(huì)產(chǎn)生一個(gè)無法預(yù)測的時(shí)序。

          數(shù)據(jù)傳輸?shù)腄igRF時(shí)序模式

            生產(chǎn)測試的挑戰(zhàn)

            對采用DigRF協(xié)議器件作成功測試的關(guān)鍵是要找到一種方式,能在RF接收測試期間管控RxData包的不確定性狀態(tài)。在對DigRF產(chǎn)品作RF接收測試期間,能觀察到RxData信號合成狀態(tài)的多級不確定性:

          ?相位時(shí)序;
          ?幀時(shí)序;
          ?幀類型;
          ?有效載荷中的數(shù)據(jù)。

            312 Mbps的數(shù)據(jù)速率來自于一個(gè)1248 MHz主時(shí)鐘(一般由PLL生成)的1/4分頻器。在生產(chǎn)性測試系統(tǒng)中,考慮到影響RF前端的相位噪聲性能的重要性,器件的時(shí)鐘輸入應(yīng)由RF儀器提供。與普通數(shù)字子系統(tǒng)相比較,這個(gè)時(shí)鐘源的起始相位通常是不可控的。DUT(待測設(shè)備)的輸入時(shí)鐘相位未定,PLL倍頻器/分頻器產(chǎn)生的相位也不確定,兩者結(jié)合導(dǎo)致RxData輸出時(shí)序無法預(yù)測,包括器件各上電循環(huán)之間,以及多地點(diǎn)并行測試配置中的不同器件之間的輸出時(shí)序。

            一種生產(chǎn)型測試儀應(yīng)有這種能力,即在各次測試間對測試儀硬件和DUT作必要修改時(shí),仍保持?jǐn)?shù)字子系統(tǒng)的運(yùn)行。它使測試儀能夠維持相對于DUT輸出的選通時(shí)序,避免在正式運(yùn)行中的選通相位重調(diào),節(jié)省了測試時(shí)間。
          下一個(gè)重要的測試挑戰(zhàn)是尋找一個(gè)能處理多級不確定性數(shù)據(jù)包傳輸性能的方式。如圖3所示,在DUT的每個(gè)RF接收測試期間,測試儀都不知道每個(gè)包會(huì)在哪個(gè)測試循環(huán)中傳輸,包的類型會(huì)是什么,或者包的類型是否符合預(yù)期(例如,RFIC會(huì)生成一個(gè)主動(dòng)的控制狀態(tài)消息)。

          由于數(shù)據(jù)包的不確定性

          圖 3. 由于數(shù)據(jù)包的不確定性,在一款器件的每次RF接收測試期間,測試儀不知道每個(gè)包會(huì)在哪個(gè)測試循環(huán)中傳輸,包的類型是什么,或者包的類型是否符合預(yù)期。


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