“在測試信號邊沿的上升/下降時間的時候，跟我選擇的存儲深度有沒有關(guān)系。比如我使用40GS/S的采樣率測試PCIE CLK，如果在屏幕上顯示一個時鐘周期測試它的上升下降時間和我調(diào)節(jié)時基到8M的存儲深度時測試到的上升下降時間有沒有區(qū)別？”

回答:

這是一個非常好的問題。其實我在培訓(xùn)時也常問客戶另外一個問題：您知道示波器中上升時間是怎么確定的嗎？我在各種講座會和培訓(xùn)中問這個問題時至今居然沒有得到過一次準(zhǔn)確的答案！這涉及到示波器中對上升時間的算法定義。很多人知道“上升沿”的10%-90%，但“上升沿”是指什么呢？這時候工程師們會用手從波形的下面指到上面。那么從下面到上面是指下面的最小值點到上面的最大值點呢還是下面的平均值位置到上面的平均值位置呢？

示波器里計算上升沿需要定義“算法”。IEEE定義的算法如圖一所示。上升沿的確定取決于參數(shù)“top”(基頂)和“base”（基底）的確定。 正確的確定基頂和基底是正確的參數(shù)計算的基礎(chǔ)。在分析的開始，示波器首先計算一個波形數(shù)據(jù)的直方圖，時間跨度由兩個時間光標(biāo)之間的時間值確定，默認(rèn)情況下光標(biāo)是從最左邊到最右邊。例如，如果波形是在兩個狀態(tài)躍變的，那么其直方圖將包括兩個波峰。分析方法將嘗試識別包含了最大的數(shù)據(jù)密度的這兩組數(shù)據(jù)。于是，和這兩組相關(guān)聯(lián)的最大概率的狀態(tài)將被計算出來，以決定基頂和基底。基頂相對應(yīng)于上部的最大概率位置，基底相對應(yīng)于下部的最大概率位置。

圖一 示波器中一些常用測量參數(shù)的算法定義

一旦確定了基頂值和基底值，上升時間和下降時間的計算就很容易了?；斨禍p去基底值就是幅值，幅值的90%和10%的門限電平之間的時間間隔就是上升時間。 如果用rise@level,可以選擇上升時間的門限電壓。如果選擇絕對設(shè)置，上升時間和下降時間的計算就是測量在上升沿或下降沿上兩個交叉點的時間間隔。但是，如果選擇了相對設(shè)置，在基頂線和基底線之間的垂直間隔被一個百分比分割（base=0%,top=100%），這樣來決定交叉點的垂直位置，在上升沿和下降沿上的交叉點之間的時間間隔被計算出來以得到上升時間和下降時間。

頂部和底部樣本數(shù)的多少會影響到基頂和基底確定的準(zhǔn)確性。如果示波器上只一個時鐘周期，頂部和底部的樣本數(shù)很少，如果時鐘信號上有一點點的過沖或下沖就會影響到直方圖的分布的最大概率狀態(tài)的確定。因此，在測量時鐘我們建議屏幕上采集的周期數(shù)盡量多一些。至此，上面的問題的答案已是不言而喻的了。

值得說明的是，有時候示波器的參數(shù)下方的狀態(tài)顯示中有 的圖標(biāo)，脈沖上的一個十字表示示波器不能夠確定基頂和基底,但是，測量仍然是有效的。

圖二 一些時間參數(shù)的定義