電子設計中經(jīng)常碰到的問題是對待測電路(DUT)傳輸特性的測試，這里所說的傳輸特性包括增益和衰減、幅頻特性、相位特性和時延特性等，而最常見的就是DUT的幅頻特性。

　　最初，對于DUT的幅頻特性的測試是在固定頻率點上逐點進行。這種測試方法繁瑣、費時，且不直觀，有時還會得出片面的結果。例如，測量點之間的諧振現(xiàn)象和網(wǎng)絡特性的突變點常常被漏掉。

　　DDS(DirectDigitalSynthesis)技術是1971年3月由美國學者J.TIerncy,C.M.Rader和B.Gold提出，這是一種從相位概念出發(fā)直接合成所需要波形的全數(shù)字頻率合成技術，原理框圖如下：

圖表1DDS技術原理框圖

　　DDS技術的出現(xiàn)使得我們對于幅頻特性的測試變得異常簡單。我們只需要按照某種規(guī)律不斷的配置“頻率碼K”，就能夠得到一個頻率隨時間按照此規(guī)律在一定頻率范圍內掃動的信號，如此即可對DUT進行快速、定性或定量的動態(tài)測試。因此，對DUT的調整、校準及故障排除提供了極大的便利。
北京普源精電(RIGOL)最新推出的DG5000系列函數(shù)/任意波形發(fā)生器采用了DDS直接數(shù)字合成技術，可生成穩(wěn)定、精確、純凈和低失真的輸出信號。本文僅以DG5000為例來詳細說明DDS信號源在掃頻測試中的具體應用。

1.DG5000提供1uHz～250MHz的掃頻范圍；
2.掃頻類型支持“線性掃頻”、“對數(shù)掃頻”和“步進掃頻”；
3.掃頻時間1ms～300s，同時支持“返回時間”、“起始保持”和“終止保持”的設置；
4.觸發(fā)方式包括“自動觸發(fā)”、“外部觸發(fā)”和“手動觸發(fā)”；
5.支持“標記頻率”的設置，可以輕易表示出掃頻信號任意點的頻率值。