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          消費(fèi)類音視頻SoC的測試

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          作者: 時(shí)間:2005-06-07 來源: 收藏
          消費(fèi)類領(lǐng)域的融合正在加速,在消費(fèi)類電腦以及通信應(yīng)用中,由于每個(gè)設(shè)備不斷地增添新的功能,它們之間的界線變得更加模糊。例如無線手機(jī),僅此一個(gè)設(shè)備現(xiàn)已內(nèi)置數(shù)碼攝像機(jī)、視頻、因特網(wǎng)與電子郵件接入、多媒體消息、MP3播放機(jī)、位置服務(wù)、PDA功能、甚至有廣播MTV。
          無線手機(jī)出現(xiàn)高品質(zhì)音視頻應(yīng)用后,需要更快的取樣率、更寬的動(dòng)態(tài)范圍,更大的內(nèi)存。即使在汽車的有限空間內(nèi),想要實(shí)現(xiàn)多聲道音頻和高分辨率位置顯示的存儲(chǔ)帶有DVD信息的全球定位系統(tǒng)(GPS)接收機(jī),更需要高品質(zhì)的音視頻。
          消費(fèi)類應(yīng)用的融合突顯系統(tǒng)級(jí)集成的重要性,這是RF、混合信號(hào)、高速接口、功率管理,內(nèi)存和高性能處理器的集成。為了縮小體積,降低成本和功耗,這類器件是用系統(tǒng)芯片()或單封裝系統(tǒng)制作的。隨著功能以及各種芯核的增加,引腳數(shù)也在不斷增加,以滿足數(shù)字控制線和數(shù)據(jù)線的要求。
          行業(yè)專用的測試要求
          隨著大批量消費(fèi)類行業(yè)中與SIP日趨復(fù)雜化,低成本與高器件壽命周期這兩個(gè)基本要求的矛盾更加突出。消費(fèi)者要求在相同或更低成本基礎(chǔ)上提高性能,同時(shí)還常常提出新的改進(jìn)。因此必須以低成本而又極其快速地對無器件進(jìn)行徹底的測試。
          在極大地減少ATE體系結(jié)構(gòu)吞吐率開銷的同時(shí),在測試中能提供更多的并行處理能力,可能妥善地解決測試日趨復(fù)雜化器件帶來的附加時(shí)間問題。為了解決前沿消費(fèi)類器件中新出現(xiàn)的模擬芯核難題,除了上述兩項(xiàng)措施外,還要保證ATE硬件的分辨率與精度。
          DACG與ADC
          高集成度器件,諸如圖1所示的無線手機(jī)基帶處理器,內(nèi)置多個(gè)性能各異的功能塊,承受著規(guī)范和測試時(shí)間的雙重壓力。
          簡單的10位有效分辨率和4KHz帶寬能滿足早期無線手機(jī)的音頻質(zhì)量要求。最新的發(fā)展趨勢表明,器件能支持規(guī)范要求更嚴(yán)格的CD品質(zhì)音頻性能,立體聲以及環(huán)繞聲效果。市場上聲稱具有24位單頻分辨率,實(shí)際有效性能一般有16位至17位,相當(dāng)于98dB至104dB的動(dòng)態(tài)范圍,帶寬為20KHz。
          當(dāng)消費(fèi)類采用分立的CD品質(zhì)DAC和ADC時(shí),由于擁有提高器件價(jià)格的主動(dòng)權(quán),ATE相關(guān)的測試成本尚能應(yīng)付。而在SoC中集成CD品質(zhì)芯核時(shí),由于附加功能增加了測試時(shí)間,以及對測試成本(COT)的負(fù)面影響,提高器件價(jià)格已不能彌補(bǔ)ATE測試成本的增加。
          單頻芯核測試時(shí)間推導(dǎo)實(shí)例對混合信號(hào)動(dòng)態(tài)測試,防止頻譜在分析過程中產(chǎn)生的頻譜中泄漏是至關(guān)重要的。因此,必須滿足下列關(guān)系式:
          M/N=Ft/Fs
          式中,M為捕獲周期的個(gè)數(shù);N為取樣點(diǎn)數(shù);Ft為測試信號(hào)頻率;Fs為取樣頻率。
          對低保真音頻器件,如ADC輸入的微音器或DAC輸出的耳機(jī),采用8KHz取樣頻率,相當(dāng)于4KHz帶寬。若測試信號(hào)頻率為1.03125KHz,相對于8KHz取樣頻率和512點(diǎn)采集,可以捕獲66個(gè)周期。取樣時(shí)間等于取樣點(diǎn)數(shù)除以取樣頻率,即64ms。音頻測試需10次以上的測試,包括多個(gè)增益狀態(tài);空閑聲道噪聲(ICN),串?dāng)_(XTALK)和互調(diào)畸變(IMD),這樣,既使是對簡單的芯核,總測試時(shí)間也需650ms。
          從ATE的模擬或數(shù)字捕獲存儲(chǔ)器向工作站傳送20位取樣數(shù)據(jù),其測試開銷亦是十分可觀的。為了確定供分析的數(shù)據(jù)傳送量,20位乘以取樣點(diǎn)數(shù)N,再乘以測試芯核的測試量次數(shù)。本例中,20位


          關(guān)鍵詞: SoC ASIC

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