微捷碼發(fā)表有片上掃描鏈壓縮功能的Talus ATPG與Talus ATPGX
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今天芯片設(shè)計(jì)的復(fù)雜度和更小的尺寸使測試制作的IC更加復(fù)雜。新的失效機(jī)制不斷涌現(xiàn)。傳統(tǒng)上, 多數(shù)瑕疵是在門級網(wǎng)表上使用由ATPG 工具產(chǎn)生的stuck-at模型來檢測的 。今天要維持必需的百萬分之一的瑕疵率(DPM), IC 制造者必須使用與時(shí)序、布局和功率相關(guān)的瑕疵檢驗(yàn)技術(shù)。結(jié)果, 質(zhì)量測試現(xiàn)在要求使用更多缺點(diǎn)模型以及從各種各樣的設(shè)計(jì)工具中產(chǎn)生的費(fèi)時(shí)和易出錯(cuò)的數(shù)據(jù)。傳統(tǒng)ATPG 工具沒有這種性能或能力來提供納米級IC測試質(zhì)量和周轉(zhuǎn)時(shí)間所需的水平。
Talus ATPG設(shè)計(jì)之初就是為了并行處理多種失效模型, 以提高測試質(zhì)量和設(shè)計(jì)周轉(zhuǎn)時(shí)間。它充分地整合進(jìn)微捷碼的Talus IC實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)并利用統(tǒng)一的數(shù)據(jù)模型架構(gòu)來高效率地得到時(shí)間、布局、功率和其它一般ATPG 工具無法獲得的設(shè)計(jì)信息。這使Talus ATPG 可產(chǎn)生其它工具無法生成的測試向量。例如, Talus ATPG 可為極小的橋梁瑕疵和干擾進(jìn)行測試。使用統(tǒng)一資料模型也允許Talus ATPG 支持當(dāng)前幾乎所有的缺點(diǎn)模型, 也可以容易地支持未來模型,和提供更好的易用性。
Talus ATPG也包括可在不降低測試質(zhì)量的前提下進(jìn)一步減少測試時(shí)間和測試費(fèi)用的額外功能。它是市面上唯一的多線程ATPG 工具, 可以提供比常規(guī)工具更高的吞吐量。Talus ATPGX 內(nèi)建片上掃描鏈壓縮功能, 可降低40倍的測試數(shù)據(jù)容量。Talus ATPG 能夠準(zhǔn)確地診斷機(jī)臺上的失效以發(fā)現(xiàn)瑕疵的邏輯和物理位置。診斷結(jié)果可以傳遞到微捷碼的Knights Camelot 與LogicMap 產(chǎn)品, 和從微捷碼YieldManager產(chǎn)品上載的物理和電子瑕疵數(shù)據(jù)進(jìn)行交互作用和失效分析。
“隨著芯片工藝尺寸越來越小，我們必須處理新的、復(fù)雜的錯(cuò)誤機(jī)制。以傳統(tǒng)的ATPG工具來產(chǎn)生測試向量變得更加復(fù)雜而費(fèi)時(shí)?！盜DT 設(shè)計(jì)自動(dòng)化服務(wù)主任Camille Kokozaki表示，“我們發(fā)現(xiàn)微捷碼的ATPG，時(shí)序和物理布局的緊密結(jié)合和無縫流程都非常令人信服。”
“作為一個(gè)公認(rèn)的通信技術(shù)革新者，我們一直在期待著可幫助我們快速搶占市場的新技術(shù)?！?Comtech AHA公司工程部副總裁Jeff Hannon表示。 “Talus ATPG的多線程引擎，測試向量優(yōu)化技術(shù)，與可針對多缺點(diǎn)模型的能力，使我們可以更快生成更有效的測試向量，有助降低我們先進(jìn)IC的周轉(zhuǎn)時(shí)間和成本。”
"隨著設(shè)計(jì)和制造IC的費(fèi)用日漸增加，測試過程更加高效率是極端重要的- 如果您無法測試它, 就不要建立它。" 微捷碼設(shè)計(jì)實(shí)施事業(yè)部總經(jīng)理Kam Kittrell表示。"Talus ATPG 的加入更加強(qiáng)了Talus 平臺的測試能力, 使我們的顧客對他們芯片的制造、測試以及盈利能力更有信心。"
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