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          LCD Driver IC 測試方法及其對測試系統(tǒng)提出的挑戰(zhàn)

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          作者:宗偉,愛德萬測試(蘇州)有限公司上海分公司SE技術部 時間:2005-09-05 來源:EDN電子設計技術 收藏
          測試方法及其對測試系統(tǒng)提出的挑戰(zhàn)(2)
           
           
           

            假設被測的是256色、384 輸出且具有Dot 翻轉(zhuǎn)功能的,那么由公式可得需要測試的電壓值個數(shù)為:
            256(顏色深度)x384(pin數(shù))x2(Dot 翻轉(zhuǎn)) =196,608
            一般的DC測試部件的測試時間為幾到幾十個uS,由此可知測試時間將會比較長。如果的色彩深度高一些的話(65535色),測試時間根本無法讓人接受,因此在進行此類測試時需要使用數(shù)字采樣器(Digitizer)來連續(xù)地進行電壓采樣,這樣就可以在很短的時間進行此項繁復的測試了。在這種情況下,由于輸出引腳數(shù)量很大,可以同時進行電壓采樣的數(shù)字采樣器的數(shù)量與所需的測試時間成反比,增加同步工作的數(shù)字采樣器的數(shù)量將會節(jié)約測試時間,大幅降低IC的相對生產(chǎn)成本,但是另一方面,數(shù)字采樣器數(shù)量的提升會引起測試系統(tǒng)成本的上升,因此適當?shù)貙⒚繋讉€LCD輸出通道配備一個數(shù)字采樣器是一個折中的解決方案,例如Advantest的T6371測試系統(tǒng)就是使用每八個LCD輸出引腳配備一個數(shù)字采樣器的配置方法。
            另外,由于需要采樣數(shù)據(jù)量巨大,數(shù)據(jù)運算也需要一定的時間,如果在數(shù)據(jù)采樣的同時能夠進行數(shù)據(jù)運算的工作的話,將大大縮短測試時間。目前這種工作方式在T6371測試系統(tǒng)上已經(jīng)通過Double-bank AQM的構架實現(xiàn)。
            (9) 其他
            當然,由于各種LCD 器件差異、生產(chǎn)廠商的不同,以及IC內(nèi)部構架的不同,各種LCD IC都會具有一些獨特的測試項目,應當根據(jù)實際情況選擇測試項目。
            LCD IC的特點對測試系統(tǒng)提出的挑戰(zhàn)
            圖4為常見LCD Driver IC的引腳分布:

            LCD Driver IC的輸出引腳數(shù)量很大
            雖然LCD顯示器件規(guī)格的不斷擴大(>17 inch),但是行列驅(qū)動芯片的數(shù)量卻基本上不變,這使得單個IC的LCD 驅(qū)動引腳的數(shù)目也就愈來愈多,許多LCD Driver IC的驅(qū)動引腳數(shù)已經(jīng)達到700以上,參見下表,QXGA所需的LCD Driver輸出引腳數(shù)目的計算公式為:
            QXGA 2048(Pixel)

          關鍵詞: LCD Driver IC 液晶顯示 LCD

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