系統(tǒng)性能

　　我們?yōu)樽詣?dòng)化校驗(yàn)開(kāi)發(fā)的VI 能夠滿足所有需求。在達(dá)到不同功能性測(cè)試的精度要求同時(shí)，還在測(cè)試速度、成本、緊湊型等方面超越了舊測(cè)試系統(tǒng)。每個(gè)VI 完成數(shù)據(jù)的采集、度量，并與閾值進(jìn)行比較。GO或NO GO標(biāo)識(shí)控制在失敗事件時(shí)關(guān)閉電源，或在存儲(chǔ)測(cè)試結(jié)果后完成最終測(cè)試報(bào)告。上表中比較了舊測(cè)試系統(tǒng)及基于Vi 的新系統(tǒng)。

　　測(cè)試時(shí)間縮短的主要原因是能夠連續(xù)執(zhí)行控制系統(tǒng)配置、數(shù)據(jù)采集和顯示及測(cè)試報(bào)告生成等步驟。

　　結(jié)論

　　基于用戶開(kāi)發(fā)V I 實(shí)現(xiàn)的低成本虛擬儀器系統(tǒng)具有高性價(jià)比。LabVIEW作為其中關(guān)鍵，提供了測(cè)試設(shè)備中集成的DAQ硬件及自動(dòng)化的測(cè)試計(jì)劃和文檔。LabVIEW 靈活、友好的圖形化編程環(huán)境在很大程度上縮短了系統(tǒng)開(kāi)發(fā)時(shí)間。

　　將本研究作為鋪墊，可在進(jìn)一步軟硬件平臺(tái)開(kāi)發(fā)中實(shí)現(xiàn)易修改的系統(tǒng)，甚至可集成其它類型測(cè)試或完成類似系統(tǒng)測(cè)試。