HAC技術(shù)在GSM手機中的應(yīng)用
加入技術(shù)交流群
圖5和圖6 中的圖是測試區(qū)域的電磁場的強度。比較圖5和圖6，可以明顯地看出圖6中的電磁場的值比較低。(請參照表1)
為了進一步驗證這種技術(shù)的有效性，我們制作了驗證用的實際模型來驗證我們的設(shè)計思想。圖7是增加了新技術(shù)的驗證用模型圖片。表2是電磁場測試結(jié)果。圖8 是天線諧振點和發(fā)射效率的比較圖。上面是諧振點的比較，下面部分是發(fā)射效率的比較。從測試結(jié)果中可以看出，這種技術(shù)和我們想像的一樣。比較計算機仿真和測試后發(fā)現(xiàn)，不同點是：1)計算機仿真使用了一個頻率，而測試中用了兩個頻率;2)測試頻率和仿真頻率不完全一致。但是，從測試結(jié)果可以看出，這種方案是工作的，而且能同時降低不同頻段在測試區(qū)域的電磁場的值，也不影響天線的諧振點和發(fā)射效率，和我們設(shè)想的完全一致。
評論