正常瀏覽有問(wèn)題，請(qǐng)點(diǎn)擊這里
|
正常瀏覽有問(wèn)題，請(qǐng)點(diǎn)擊這里 |
 |
|
下載下面三個(gè)專門為您準(zhǔn)備的解決方案中的任意一個(gè)，即有機(jī)會(huì)獲得EEPW為大家準(zhǔn)備的京東禮品券（10元京東禮品券100個(gè)），學(xué)習(xí)新知識(shí)，輕松領(lǐng)好禮！ 活動(dòng)時(shí)間：2016年12月20日-2017年1月20日（此活動(dòng)只針對(duì)工程師） |
||
 |
模擬設(shè)計(jì)與圖形匹配：絕佳搭配 盡管自動(dòng)化圖形匹配在數(shù)字集成電路物理驗(yàn)證中廣泛使用，但其在模擬領(lǐng)域的采用則要遲緩得多。事實(shí)上，自定義模擬電路的本質(zhì)使其非常適合于自動(dòng)化圖形匹配技術(shù)所提供的一些新型物理驗(yàn)證技術(shù)，從而讓設(shè)計(jì)師在確保設(shè)計(jì)質(zhì)量的同時(shí)…… 
|
 |
多重曝光簡(jiǎn)介 利用多重曝光可在當(dāng)今最先進(jìn)的節(jié)點(diǎn)上獲得精確的光刻分辨率。了解此技術(shù)的基礎(chǔ)知識(shí)，以及它對(duì)您的 IC 設(shè)計(jì)和驗(yàn)證任務(wù)與職責(zé)帶來(lái)的影響……
|
 |
LVS盒處理可幫助設(shè)計(jì)師迅速完成出色設(shè)計(jì) 在 IC 設(shè)計(jì)驗(yàn)證過(guò)程中，如何既保持原有的設(shè)計(jì)版圖和層次結(jié)構(gòu)，同時(shí)又滿足客戶對(duì)設(shè)計(jì)流程性能更好更快的一貫要求，無(wú)疑是設(shè)計(jì)人員面臨的一項(xiàng)重大挑戰(zhàn)。設(shè)計(jì)師必須始終在性能、數(shù)據(jù)大小和準(zhǔn)確性之間進(jìn)行權(quán)衡。早在設(shè)計(jì)之初，采用 ……
|
| 如果您要退訂，請(qǐng) 點(diǎn)擊這里 Copyright ?2016 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved. |