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          EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 仿真測(cè)試

          NI×迪為:底盤(pán)域HIL仿真系統(tǒng)

          • 01 前言隨著汽車(chē)互聯(lián)化、自動(dòng)化和電氣化程度的提高,電子控制單元幾乎可以控制所有關(guān)鍵機(jī)械結(jié)構(gòu),底盤(pán)控制器的數(shù)量和復(fù)雜度都在提高,相對(duì)應(yīng)的測(cè)試需求也大量增加。汽車(chē)底盤(pán)系統(tǒng)對(duì)于測(cè)試平臺(tái)的要求日趨嚴(yán)格和復(fù)雜,其主要體現(xiàn)在:● 不同于其他系統(tǒng),底盤(pán)擁有大量機(jī)械結(jié)構(gòu),控制器承擔(dān)了不少機(jī)械模塊的控制功能,為了能更全面的覆蓋控制器的測(cè)試需求和搭建更貼近于實(shí)車(chē)工況的測(cè)試環(huán)境,底盤(pán)域HIL仿真測(cè)試系統(tǒng)需要配置相應(yīng)的實(shí)物臺(tái)架(轉(zhuǎn)向臺(tái)架、制動(dòng)臺(tái)架、懸架臺(tái)架),實(shí)物臺(tái)架和車(chē)輛模型的數(shù)據(jù)交互、測(cè)試實(shí)用性以及整體的體積大小等均需考慮
          • 關(guān)鍵字: 電子控制單元  底盤(pán)控制器  汽車(chē)底盤(pán)系統(tǒng)  HIL  仿真測(cè)試  PXI  VeriStand  

          滬電股份:半導(dǎo)體EDA仿真測(cè)試用PCB已實(shí)現(xiàn)批量交付

          • 近日,滬電股份在接受機(jī)構(gòu)調(diào)研表示,2023年上半年,公司通過(guò)了重要的國(guó)外互聯(lián)網(wǎng)公司對(duì)數(shù)據(jù)中心服務(wù)器和AI服務(wù)器的產(chǎn)品認(rèn)證,并已批量供貨;基于PCIE的算力加速卡、網(wǎng)絡(luò)加速卡已在黃石廠批量生產(chǎn);在交換機(jī)產(chǎn)品部分,800G交換機(jī)產(chǎn)品已開(kāi)始批量交付,基于算力網(wǎng)絡(luò)所需低延時(shí)、高負(fù)載、高帶寬的交換機(jī)產(chǎn)品已通過(guò)樣品認(rèn)證;基于半導(dǎo)體EDA仿真測(cè)試用PCB已實(shí)現(xiàn)批量交付。滬電股份表示,2023年上半年,受經(jīng)濟(jì)環(huán)境等因素影響,傳統(tǒng)數(shù)據(jù)中心支出增速下滑,并促使客戶(hù)持續(xù)縮減先前因避免缺料等風(fēng)險(xiǎn)普遍建立的過(guò)高庫(kù)存,新增訂單疲軟,
          • 關(guān)鍵字: 滬電股份  EDA  仿真測(cè)試  PCB  

          CAN總線(xiàn)漏檢錯(cuò)幀概率研究及其改進(jìn)

          • 過(guò)去對(duì)CAN的漏檢錯(cuò)幀概率的研究很有限,數(shù)據(jù)的獲得主要依靠大量的仿真測(cè)試。由于要仿真的量太大,實(shí)際上仿真的仍然是極小的樣本,所以得到的漏檢錯(cuò)幀概率可信性不足。本文介紹了漏檢實(shí)例的構(gòu)造方法,從而進(jìn)行漏檢錯(cuò)幀概率下限的分析計(jì)算。得到的CAN協(xié)議的漏檢錯(cuò)幀概率遠(yuǎn)大于以前的結(jié)論,因此對(duì)CAN的應(yīng)用有巨大的沖擊。由于已有大量應(yīng)用必須加以改進(jìn),提出了改進(jìn)的軟件補(bǔ)救措施,它從根本上解決了填充規(guī)則對(duì)CAN錯(cuò)幀漏檢率的影響。
          • 關(guān)鍵字: 漏檢錯(cuò)幀概率  仿真測(cè)試  樣本  

          弱信號(hào)放大電路的仿真測(cè)試

          • 電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場(chǎng)中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò)家園
          • 關(guān)鍵字: 弱信號(hào)放大電路  仿真測(cè)試  ICL7650  

          Multisim 8的弱信號(hào)放大電路的仿真測(cè)試

          • 1引言運(yùn)算放大器(op-amp)簡(jiǎn)稱(chēng)運(yùn)放,因最初主要用于模擬量的數(shù)學(xué)運(yùn)算而得名。它是一個(gè)高電壓增益、高輸入電阻和低輸出電阻的直接耦合多級(jí)放大電路,也是最基本、最具代表性、應(yīng)用最廣泛的一種模擬集成電路。在工業(yè)自動(dòng)
          • 關(guān)鍵字: Multisim  弱信號(hào)  放大電路  仿真測(cè)試    

          基于Multisim 8的弱信號(hào)放大電路的仿真測(cè)試

          • 4.3 函1 引言  運(yùn)算放大器(op-amp)簡(jiǎn)稱(chēng)運(yùn)放, 因最初主要用于模擬量的數(shù)學(xué)運(yùn)算而得名。它是一個(gè)高電壓增益 ...
          • 關(guān)鍵字: Multisim  弱信號(hào)  放大電路  仿真測(cè)試  

          逆變電源(IPS)設(shè)計(jì)的仿真測(cè)試及改善

          • 本文描述了基于ARM7Cortex-M3的單片機(jī)STM32F103和TIC2000系列DSP芯片TMS320F2808聯(lián)合控制的IPS核...
          • 關(guān)鍵字: 逆變電源  仿真測(cè)試  

          交通信號(hào)燈的控制

          MIMO仿真測(cè)試的技術(shù)要求及解決方案

          • 1、概述MIMO(Multiple-Input-Multiple-Output)時(shí)空編碼無(wú)線(xiàn)通信因其在傳輸速率、移動(dòng)性、頻譜效率、無(wú)縫...
          • 關(guān)鍵字: MIMO  仿真測(cè)試  

          解析基于FPGA的智能控制器設(shè)計(jì)及測(cè)試方法

          • 1引言隨著市場(chǎng)需求的增長(zhǎng),超大規(guī)模集成電路的集成度和工藝水平不斷提高,在一個(gè)芯片上完成系統(tǒng)級(jí)的...
          • 關(guān)鍵字: FPGA  VHDL  仿真測(cè)試  智能控制器  

          基于Multisim8的弱信號(hào)放大電路的仿真測(cè)試

          • 1 引言

              運(yùn)算放大器(op-amp)簡(jiǎn)稱(chēng)運(yùn)放, 因最初主要用于模擬量的數(shù)學(xué)運(yùn)算而得名。它是一個(gè)高電壓增益、高輸入電阻和低輸出電阻的直接耦合多級(jí)放大電路,也是最基本、最具代表性、應(yīng)用最廣泛的一種模擬集成電路。
          • 關(guān)鍵字: Multisim8  弱信號(hào)  放大電路  仿真測(cè)試    

          單端反激式開(kāi)關(guān)電源中高頻變壓器的建模與仿真測(cè)試研究

          • 1引言單端反激式開(kāi)關(guān)電源的設(shè)計(jì)初步完成以后如果不進(jìn)行電路的仿真而是直接進(jìn)行制板和實(shí)驗(yàn)調(diào)試,盡管最終...
          • 關(guān)鍵字: 高頻變壓器  PExprt  PSPICE  仿真測(cè)試  

          單片機(jī)應(yīng)用電路板的故障診斷方法及實(shí)現(xiàn)

          MF-TDMA衛(wèi)星通信網(wǎng)絡(luò)仿真

          MF-TDMA衛(wèi)星網(wǎng)絡(luò)仿真測(cè)試

          • 電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場(chǎng)中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò)家園
          • 關(guān)鍵字: MF-TDMA  RationalRose  衛(wèi)星通信  仿真測(cè)試  
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