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          EEPW首頁 >> 主題列表 >> 仿真驗(yàn)證

          大幅縮減設(shè)計(jì)進(jìn)程 Cadence新設(shè)備為硬件仿真驗(yàn)證提速

          • 當(dāng)前隨著國內(nèi)IC設(shè)計(jì)產(chǎn)業(yè)越來越受關(guān)注,短時(shí)間內(nèi)涌現(xiàn)出海量的IC設(shè)計(jì)初創(chuàng)企業(yè),對這些初創(chuàng)或者正在快速成長的IC設(shè)計(jì)企業(yè)來說,如何盡可能縮短設(shè)計(jì)進(jìn)程,加速設(shè)計(jì)上市時(shí)間是一個不可回避的關(guān)鍵點(diǎn)。作為當(dāng)下幾乎已經(jīng)占據(jù)IC設(shè)計(jì)近60%工作量的仿真與驗(yàn)證環(huán)節(jié),如果能夠借助先進(jìn)的工具大幅縮短這個過程所需的時(shí)間,那么將為諸多IC設(shè)計(jì)企業(yè)的產(chǎn)品成功增添重要的砝碼。 為了更好地提升IC設(shè)計(jì)客戶的仿真與驗(yàn)證效率,三大EDA公司不斷更新各自的仿真驗(yàn)證工具,希望盡可能將該環(huán)節(jié)的時(shí)間大幅壓縮,其中Cadence選擇推出下一代
          • 關(guān)鍵字: Cadence  Palladium Z2  Protium X2  仿真驗(yàn)證  

          一種可配置的EDA仿真驗(yàn)證方法

          • 介紹了一種適用于5000邏輯單元以上規(guī)模電路的可配置EDA仿真驗(yàn)證方法?它由可配置的測試臺生成器自動產(chǎn)生測試臺,并管理測試向量的注人和仿真狀態(tài)的存儲
          • 關(guān)鍵字: 仿真驗(yàn)證  EDA  配置  

          FPGA系統(tǒng)設(shè)計(jì)的仿真驗(yàn)證之: FPGA設(shè)計(jì)仿真驗(yàn)證的原理和方法

          • 嚴(yán)格來講,F(xiàn)PGA設(shè)計(jì)驗(yàn)證包括功能與時(shí)序仿真和電路驗(yàn)證。仿真是指使用設(shè)計(jì)軟件包對已實(shí)現(xiàn)的設(shè)計(jì)進(jìn)行完整測試,模擬實(shí)際物理環(huán)境下的工作情況。
          • 關(guān)鍵字: 仿真驗(yàn)證  ModelSim  FPGA  CompilerII  FoundationSeries  Quartus  

          FPGA系統(tǒng)設(shè)計(jì)的仿真驗(yàn)證之: 功能仿真和時(shí)序仿真的區(qū)別和實(shí)現(xiàn)方法

          • 這里我們使用一個波形發(fā)生器作為例子,來說明如何使用Modelsim對Quartus II生成的IP Core和相應(yīng)的HDL文件進(jìn)行功能仿真和時(shí)序仿真。這個例子里面使用到了由Quartus II生成的一個片上ROM存儲單元。這種存儲單元和RAM一樣,都是基本的FPGA片上存儲單元,在以后的設(shè)計(jì)里面會經(jīng)常使用到。
          • 關(guān)鍵字: 仿真驗(yàn)證  功能仿真  FPGA  時(shí)序仿真  

          FPGA系統(tǒng)設(shè)計(jì)的仿真驗(yàn)證之: 仿真測試文件(Testbench)的設(shè)計(jì)方法

          • 隨著設(shè)計(jì)量和復(fù)雜度的不斷增加,數(shù)字設(shè)計(jì)驗(yàn)證變得越來越難,所消耗的成本也越來越高。面對這種挑戰(zhàn),驗(yàn)證工程師必須依靠相應(yīng)的驗(yàn)證工具和方法才行。對于大型的設(shè)計(jì),比如上百萬門的設(shè)計(jì)驗(yàn)證,工程師必須使用一整套規(guī)范的驗(yàn)證工具;而對于較小的設(shè)計(jì),使用具有HDL testbench的仿真器是一個不錯的選擇。
          • 關(guān)鍵字: 仿真驗(yàn)證  仿真測試文件  FPGA  Testbench  

          高靈敏度的TIA設(shè)計(jì)及驗(yàn)證

          •   在光信號接收應(yīng)用中,TIA幾乎是必不可少的。光本身為載波,載波上附帶光信號,其中光信號可能相當(dāng)?shù)奈⑷?。比如平均值?mA的光電流,其信號強(qiáng)度如果只有1μA甚至更少達(dá)到nA級情況,如何在比較大的基底電流中提取這個微弱的信號,并且保持比較高的帶寬是一個值得研究的課題,而且存在很多的實(shí)際應(yīng)用
          • 關(guān)鍵字: 高靈敏度  TIA  仿真驗(yàn)證  

          回看過去10年芯片仿真驗(yàn)證

          •   全球IC設(shè)計(jì)與10年之前有很大差別,那時(shí)EVE公司剛開始設(shè)計(jì)它的第一個產(chǎn)品。在2000年時(shí)半導(dǎo)體業(yè)正狂熱的進(jìn)入一個新時(shí)代。   回看那時(shí),工藝技術(shù)是180納米及設(shè)計(jì)晶體管的平均數(shù)在2000萬個。一個ASIC平均100萬門,而大的設(shè)計(jì)到1000萬門及最大的設(shè)計(jì)在1億個門。僅只有很少部分設(shè)計(jì)從功能上采用嵌入式軟件。   驗(yàn)證占整個設(shè)計(jì)周期的70%時(shí)間及僅只有在大的CPU或圖像芯片設(shè)計(jì)中才采用仿真emulation。在2000年EVE的仿真系統(tǒng)能夠進(jìn)行60萬門的ASIC,幾乎己到極限。   到2010
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          仿真驗(yàn)證介紹

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