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單片機程序的開發(fā)

　　45nm節(jié)點被稱為IC設(shè)計的分水嶺，因為在這一節(jié)點，不僅半導(dǎo)體材料特性、光刻技術(shù)已經(jīng)接近極限，而且EDA工具也要面臨更高層次抽象、創(chuàng)新平臺、DFM、多電源域等諸多新挑戰(zhàn)，針對這一節(jié)點上的EDA工具開發(fā)需要更多創(chuàng)新的思維和策略。因為挑戰(zhàn)很多，所以業(yè)界人士對45nm的芯片設(shè)計和制造未來憂心忡忡。不過，欣喜的是，在9月11日硅谷的CDNLive!用戶會議上，Cadence向領(lǐng)先的半導(dǎo)體設(shè)計者和經(jīng)理們展示了自己的45nm設(shè)計流程。其對應(yīng)的產(chǎn)品Cadence Encounter數(shù)字設(shè)計平臺因采用了創(chuàng)新的思維和策
關(guān)鍵字：創(chuàng)新思維 Cadence 45nm IC量產(chǎn) MCU和嵌入式微處理器

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