尼得科精密檢測科技推出半導(dǎo)體測溫探針卡及支持高電壓的加壓結(jié)構(gòu)探針卡

• 尼得科精密檢測科技株式會社（以下簡稱“本公司”）子公司尼得科 SV Probe 正式發(fā)售以下產(chǎn)品：①半導(dǎo)體設(shè)備溫度測量探針卡“TC（熱電偶）探針卡”、②可支持高電壓的探針卡“加壓結(jié)構(gòu)探針卡”。近年來，電動(dòng)汽車（EV）和工業(yè)設(shè)備等領(lǐng)域使用的功率半導(dǎo)體需求不斷增加，對高電壓、大電流功率半導(dǎo)體的檢測、特別是在高溫環(huán)境下進(jìn)行更精確、高質(zhì)量檢測的需求日益增長。① “TC 探針卡”半導(dǎo)體設(shè)備溫度測量探針卡“TC 探針卡”是搭載了應(yīng)用熱電偶技術(shù)的探針“TC 探針”的產(chǎn)品，可以像現(xiàn)有技術(shù)一樣與電極 PAD 接觸，在進(jìn)行晶
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