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          可控發(fā)射 文章 進入可控發(fā)射技術社區(qū)

          使用時間可控發(fā)射方法來進行模擬電路的失效分析

          • 時間可控發(fā)射方法(TRE)是一種常用的非入侵式波形測量方法,它能從芯片的背面探測芯片內部節(jié)點的時序波形。完美 ...
          • 關鍵字: 可控發(fā)射  模擬電路  失效分析  
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          可控發(fā)射介紹

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