可測(cè)性文章進(jìn)入可測(cè)性技術(shù)社區(qū)

嵌入式存儲(chǔ)器的測(cè)試及可測(cè)性設(shè)計(jì)

本文對(duì)嵌入式存儲(chǔ)器的測(cè)試及可測(cè)性設(shè)計(jì)進(jìn)行研究總結(jié)，為我國(guó)存儲(chǔ)器測(cè)試的研究以及集成電路測(cè)試產(chǎn)業(yè)的發(fā)展奠定堅(jiān)實(shí)的技術(shù)基礎(chǔ)。
關(guān)鍵字：嵌入式存儲(chǔ)器測(cè)試向量可測(cè)性

高頻鎖相環(huán)的可測(cè)性設(shè)計(jì)可測(cè)性設(shè)計(jì)（Design for Test，DFT）最早用于數(shù)字電路設(shè)計(jì)。隨著模擬電路的發(fā)展和芯片集 ...
關(guān)鍵字：高頻鎖相環(huán) 可測(cè)性

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