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吉時(shí)利(keithley)
吉時(shí)利(keithley) 文章 進(jìn)入吉時(shí)利(keithley)技術(shù)社區(qū)
吉時(shí)利推出5位半數(shù)字多用表拓展數(shù)字多用表系列產(chǎn)品
- 吉時(shí)利儀器公司，作為先進(jìn)電性測(cè)試儀器與系統(tǒng)的行業(yè)領(lǐng)導(dǎo)者，在數(shù)字多用表(DMM)領(lǐng)域具有悠久的歷史，最近又推出一款經(jīng)濟(jì)實(shí)用的新產(chǎn)品。2110型5位半雙顯示數(shù)字多用表(DMM)為多種通用功能和臺(tái)式應(yīng)用而優(yōu)化。
- 關(guān)鍵字： 吉時(shí)利 數(shù)字多用表 USB
KPXI混合測(cè)試系統(tǒng)解決方案
- 吉時(shí)利的混合測(cè)試解決方案是業(yè)界最先進(jìn)的PXI和測(cè)試設(shè)備混合結(jié)構(gòu)，通過(guò)分布式編程和并行執(zhí)行能夠極大地加...
- 關(guān)鍵字： KPXI 混合測(cè)試系統(tǒng) 吉時(shí)利 PXI
吉時(shí)利發(fā)布專(zhuān)為高功率半導(dǎo)體測(cè)試優(yōu)化的高電壓數(shù)字源表
- 先進(jìn)電氣測(cè)試儀器與系統(tǒng)的世界級(jí)領(lǐng)導(dǎo)者吉時(shí)利儀器公司今日發(fā)布2657A高功率數(shù)字源表。2657A為吉時(shí)利2600A系列高速、精密源測(cè)量單元數(shù)字源表系列產(chǎn)品增加了高電壓功能。此系列儀器能幫助吉時(shí)利客戶(hù)分析范圍更寬的功率半導(dǎo)體器件和材料。2657A內(nèi)建3,000V、180W源，支持以極低的成本向被測(cè)器件輸出5倍于最接近競(jìng)爭(zhēng)系統(tǒng)的功率，并且，構(gòu)建至2657A的精密、高速6位半測(cè)量引擎的1fA（飛安）電流測(cè)量分辨率滿(mǎn)足了下一代功率半導(dǎo)體器件的低漏電要求。
- 關(guān)鍵字： 吉時(shí)利 數(shù)字源表 2657A
LabVIEW編程實(shí)時(shí)控制KEITHLEY 6517A靜電計(jì)
- LabVIEW編程實(shí)時(shí)控制KEITHLEY 6517A靜電計(jì)基于GPIB接口總線(xiàn)，采用6517A中最簡(jiǎn)單的按鈕命令，在LabVIEW5.1平臺(tái) ...
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吉時(shí)利專(zhuān)為低電壓測(cè)試推出2401型數(shù)字源表
- 吉時(shí)利儀器公司日前發(fā)布了專(zhuān)為低電壓測(cè)試而優(yōu)化的低成本方案，擴(kuò)展了其廣受工程師贊譽(yù)的2400系列數(shù)字源表產(chǎn)品線(xiàn)。與所有吉時(shí)利SMU(源測(cè)量單元)儀器一樣，新推出的2401型數(shù)字源表對(duì)光伏(太陽(yáng)能)電池、高亮度LED(HBLED)、低壓材料和半導(dǎo)體器件的電流與電壓(I-V)特性分析以及電阻測(cè)量等高精度測(cè)試應(yīng)用進(jìn)行了優(yōu)化，并且，2401以前所未有的低價(jià)在20V和1A信號(hào)幅度上提供了源和測(cè)量單元的先進(jìn)功能。
- 關(guān)鍵字： 吉時(shí)利 數(shù)字源表
吉時(shí)利發(fā)布半導(dǎo)體測(cè)試軟件的升級(jí)版KTE 5.3
- 美國(guó)俄亥俄州克利夫蘭，2011年9月19日訊–先進(jìn)電氣測(cè)試儀器與系統(tǒng)的世界級(jí)領(lǐng)導(dǎo)者吉時(shí)利儀器公司發(fā)布了獲得業(yè)界好評(píng)的吉時(shí)利測(cè)試環(huán)境（KTE）半導(dǎo)體測(cè)試軟件的升級(jí)版。KTE V5.3是專(zhuān)為配合吉時(shí)利迄今為止最快、最經(jīng)濟(jì)有效的過(guò)程控制監(jiān)控方案產(chǎn)品線(xiàn)S530參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)的。
- 關(guān)鍵字： 吉時(shí)利 測(cè)試 KTE5.3
吉時(shí)利發(fā)布最新2200系列可編程通用電源產(chǎn)品線(xiàn)
- 美國(guó)俄亥俄州克利夫蘭，2011年9月19日訊–先進(jìn)電氣測(cè)試儀器與系統(tǒng)的世界級(jí)領(lǐng)導(dǎo)者吉時(shí)利儀器公司今天發(fā)布了五款新的通用可編程直流電源，以補(bǔ)充吉時(shí)利用于組件、模塊、器件特性分析和測(cè)試應(yīng)用的現(xiàn)有專(zhuān)業(yè)電源產(chǎn)品線(xiàn)及源測(cè)量?jī)x器組。最新發(fā)布的型號(hào)2200系列電源產(chǎn)品線(xiàn)以經(jīng)濟(jì)有效的價(jià)格、靈活的操作、功能結(jié)合卓越的電壓和電流輸出準(zhǔn)確度，提升了各種器件特性分析和測(cè)試應(yīng)用的易用性。
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吉時(shí)利發(fā)布最新2401型數(shù)字源表
- 美國(guó)俄亥俄州克利夫蘭，2011年9月19日訊–先進(jìn)電氣測(cè)試儀器與系統(tǒng)的世界級(jí)領(lǐng)導(dǎo)者吉時(shí)利儀器公司今天發(fā)布了專(zhuān)為低電壓測(cè)試而優(yōu)化的低成本方案，擴(kuò)展了其廣受工程師贊譽(yù)的2400系列數(shù)字源表產(chǎn)品線(xiàn)。與所有吉時(shí)利SMU（源測(cè)量單元）儀器一樣，新推出的2401型數(shù)字源表對(duì)光伏（太陽(yáng)能）電池、高亮度LED（HBLED）、低壓材料和半導(dǎo)體器件的電流與電壓（I-V）特性分析以及電阻測(cè)量等高精度測(cè)試應(yīng)用進(jìn)行了優(yōu)化，并且，2401以前所未有的低價(jià)在20V和1A信號(hào)幅度上提供了源和測(cè)量單元的先進(jìn)功能。
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分析系統(tǒng)優(yōu)化小電流測(cè)量
- ?????? I分析系統(tǒng)優(yōu)化小電流測(cè)量- 引言 許多關(guān)鍵應(yīng)用都需要能夠測(cè)量小電流的能力——比如pA級(jí)或更小。這些應(yīng)用包括確定FET的柵極漏流、測(cè)試敏感的納米電子器件，以及測(cè)量絕緣體或電容的漏流。 4200-SCS型半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)配備可選的4200-PA型遠(yuǎn)程前置放大器時(shí)，可提供非常卓越的小電流測(cè)量能力，分辨率達(dá)1E–16A。成功測(cè)量小電流不僅依賴(lài)于使用非常靈敏的安培計(jì)，例如4200-SCS型，而
- 關(guān)鍵字： 吉時(shí)利 電流測(cè)量 4200-SCS
丹納赫公司旗下三家資助越南電氣工程教育事業(yè)
- ????? 6月1日，總部位于美國(guó)華盛頓特區(qū)的科技公司丹納赫日前宣布其旗下從事測(cè)試與測(cè)量的三家子公司---泰克、福祿克和吉時(shí)利加入越南的“高等工程教育聯(lián)盟計(jì)劃” (HEEAP)，共同捐贈(zèng)了價(jià)值 30 萬(wàn)美元的實(shí)驗(yàn)室測(cè)試設(shè)備和用于教員培訓(xùn)的現(xiàn)金獎(jiǎng)勵(lì)。該目標(biāo)旨在為學(xué)習(xí)制造、研究以及開(kāi)發(fā)應(yīng)用領(lǐng)域的電子工程專(zhuān)業(yè)學(xué)生提供電氣和電子測(cè)試、測(cè)量設(shè)備，從而讓他們掌握更多的實(shí)踐、操作經(jīng)驗(yàn)。泰克、福祿克和吉時(shí)利公司都是測(cè)試和測(cè)量行業(yè)的全球領(lǐng)先公司，具有
- 關(guān)鍵字： 泰克 示波器 測(cè)試設(shè)備 福祿克 吉時(shí)利
融合LXI和腳本的優(yōu)點(diǎn)（下）
- Part v ? ???這部分包含許多腳本例子說(shuō)明吉時(shí)利支持腳本的儀器的一些特點(diǎn)。圖1示出了兩臺(tái)吉時(shí)利系統(tǒng)源表如何使用單腳本控制產(chǎn)生3相交流波形。在這個(gè)例子中，使用吉時(shí)利的TSP-Link技術(shù)連接這兩臺(tái)儀器，因而很容易用腳本控制這兩臺(tái)儀器。 ????? 圖2說(shuō)明了基于LXI Class B技術(shù)的定時(shí)器如何控制腳本工作。在此腳本中，吉時(shí)利3706型LXI Class B儀器使用基于IEEE 1
- 關(guān)鍵字： 吉時(shí)利 LXI 腳本
咱的納米有幾 安(A)、伏(V)?(下)
- 解決問(wèn)題：脈沖I-V測(cè)試 ——納米測(cè)試小技巧 在對(duì)納米器件進(jìn)行電流-電壓(I-V)脈沖特征分析時(shí)通常需要測(cè)量非常小的電壓或電流，因?yàn)槠渲行枰謩e加載很小的電流或電壓去控制功耗或者減少焦耳熱效應(yīng)。這里，低電平測(cè)量技術(shù)不僅對(duì)于器件的I-V特征分析而且對(duì)于高電導(dǎo)率材料的電阻測(cè)量都非常重要。利于研究人員和電子行業(yè)測(cè)試工程師而言，這一功耗限制對(duì)當(dāng)前的器件與材料以及今后器件的特征分析提出了巨大的挑戰(zhàn)。 與微米級(jí)元件與材料的I-V曲線(xiàn)生成不同的是，對(duì)納米材料與器件的測(cè)量需要特殊的
- 關(guān)鍵字： 吉時(shí)利 納米測(cè)試 脈沖I-V測(cè)試
吉時(shí)利(keithley)介紹
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