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羅德與施瓦茨發(fā)布在片器件測試解決方案
- 羅德與施瓦茨為在片器件的完整射頻性能表征提供測試解決方案,該方案結合了羅德與施瓦茨強大的R&S ZNA矢量網(wǎng)絡分析儀和FormFactor先進的工程探針臺系統(tǒng)。半導體制造商可以在產(chǎn)品的開發(fā)、認證和生產(chǎn)階段執(zhí)行可靠且可重復的在片器件特性測試。 整個在片測量工作由R&S ZNA矢量網(wǎng)絡分析儀與FormFactor SUMMIT200探針臺系統(tǒng)一起完成。5G 射頻前端設計師需要確保適當?shù)钠骷敵龉β屎蜕漕l帶寬,同時兼顧優(yōu)化器件效率。設計流程中的一個重要階段是驗證射頻設計,盡早獲得相關設
- 關鍵字: 羅德與施瓦茨 在片器件測試
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