存儲器冗余的關(guān)鍵區(qū)域分析

• 存儲器冗余旨在通過提高片芯良品率，從而降低制造成本。如果不采用冗余方法，提高片芯良品率的其它方式可能包括使設(shè)計更小型化，或減少缺陷率。如果在設(shè)計中無效益的部分使用冗余，那是浪費片芯面積和測試時間，增加了制造成本。在這兩個極端之間，要根據(jù)充分的指導(dǎo)方針來確定是否增加冗余。有高缺陷率的設(shè)計可能需要較多的冗余；而低缺陷率的設(shè)計則可能不需要冗余。要量化良品率的改善以及確定最佳配置，有必要采用關(guān)鍵區(qū)域分析與精確的代工廠缺陷統(tǒng)計數(shù)據(jù)，對存儲器冗余做分析。
• 關(guān)鍵字： 存儲器冗余  隨機缺陷  關(guān)鍵區(qū)域分析