鼎陽(yáng)科技持續(xù)創(chuàng)新突破，SNA系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀新增材料測(cè)量與開關(guān)矩陣控制功能

• 鼎陽(yáng)科技秉持創(chuàng)新引領(lǐng)的發(fā)展理念，不斷推動(dòng)產(chǎn)品升級(jí)和技術(shù)創(chuàng)新，致力于為全球用戶提供更加優(yōu)質(zhì)、高效的測(cè)試測(cè)量解決方案。SNA系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀新增材料測(cè)量與開關(guān)矩陣控制功能，為用戶帶來更加出色的使用體驗(yàn)。材料測(cè)量挑戰(zhàn)在射頻和微波頻率范圍內(nèi)研究和開發(fā)應(yīng)用時(shí)，材料測(cè)量是不可或缺的。PCB、微波電路設(shè)計(jì)、材料科學(xué)、生物研究、汽車工程以及計(jì)量和研究機(jī)構(gòu)等需表征各種材料，以更好地了解其對(duì)電磁波傳播的影響來實(shí)現(xiàn)更符合預(yù)期的設(shè)計(jì)，或檢測(cè)制造工藝從而控制產(chǎn)品的質(zhì)量等，來自不同應(yīng)用領(lǐng)域的類似問題產(chǎn)生對(duì)精確表征和測(cè)量材料介電特性
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