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開(kāi)環(huán)測(cè)試
開(kāi)環(huán)測(cè)試 文章 進(jìn)入開(kāi)環(huán)測(cè)試技術(shù)社區(qū)
輸入失調(diào)電壓的開(kāi)環(huán)測(cè)試
- 輸入失調(diào)電壓(VIO)是電壓比較器(以下簡(jiǎn)稱比較器)一個(gè)重要的電性能參數(shù)，GB/T 6798－1996中，將其定義為“使輸出電壓為規(guī)定值時(shí)，兩輸入端間所加的直流補(bǔ)償電壓”。傳統(tǒng)測(cè)試設(shè)備大都采用“被測(cè)器件(DU
- 關(guān)鍵字： 輸入 失調(diào)電壓 開(kāi)環(huán)測(cè)試
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開(kāi)環(huán)測(cè)試介紹
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歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對(duì)開(kāi)環(huán)測(cè)試的理解，并與今后在此搜索開(kāi)環(huán)測(cè)試的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
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