形式驗(yàn)證如何加速超大規(guī)模芯片設(shè)計(jì)？

• 引言隨著集成電路規(guī)模的不斷擴(kuò)大，從設(shè)計(jì)到流片（Tape-out）的全流程中，驗(yàn)證環(huán)節(jié)的核心地位日益凸顯。有效的驗(yàn)證不僅是設(shè)計(jì)完美的基石，更是確保電路在實(shí)際應(yīng)用中穩(wěn)定運(yùn)行的保障。尤為關(guān)鍵的是，邏輯或功能錯(cuò)誤是導(dǎo)致流片失敗的首要原因，占比高達(dá)50%。功能驗(yàn)證正是解決這一難題的利器，它助力工程師精準(zhǔn)識(shí)別邏輯設(shè)計(jì)漏洞、性能不達(dá)標(biāo)問題以及設(shè)計(jì)代碼中的功能缺陷，從而最大限度地規(guī)避流片風(fēng)險(xiǎn)。針對(duì)超大規(guī)模集成電路（VLSI）設(shè)計(jì)，目前功能驗(yàn)證有兩種方法：動(dòng)態(tài)仿真驗(yàn)證和形式驗(yàn)證（Formal Verification）。形
• 關(guān)鍵字： 思爾芯S2C