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EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 掃描測(cè)試

掃描測(cè)試文章進(jìn)入掃描測(cè)試技術(shù)社區(qū)

混合掃描測(cè)試解決方案的優(yōu)勢(shì)

掃描測(cè)試是測(cè)試集成電路的標(biāo)準(zhǔn)方法。絕大部分集成電路生產(chǎn)測(cè)試是基于利用掃描邏輯的 ATPG(自動(dòng)測(cè)試向量生成)。掃描 ATPG 是一項(xiàng)成熟的技術(shù)，特點(diǎn)是結(jié)果的可預(yù)測(cè)性高并且效果不錯(cuò)。它還能實(shí)現(xiàn)精確的缺陷診斷，有助于
關(guān)鍵字：掃描測(cè)試 IC測(cè)試 ATPG

共1條 1/1 1

掃描測(cè)試介紹

您好，目前還沒(méi)有人創(chuàng)建詞條掃描測(cè)試!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對(duì)掃描測(cè)試的理解，并與今后在此搜索掃描測(cè)試的朋友們分享。創(chuàng)建詞條

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