你的電源IC是如何失效的？電源IC損壞過應力分析

• 在我們項目開發(fā)和產品量產過程中總是會出現(xiàn)一些 IC 損壞的現(xiàn)象，通常要想找出這些 IC損壞的根本原因并不總是很容易。有些偶發(fā)性的損壞很難被重現(xiàn)，這時的難度就會更大。而且有些時候 IC 的失效表現(xiàn)簡直就是破壞性的，可能IC已經被燒得一塌糊涂，即使求助IC原廠分析，往往也不一定能找出失效的根本原因，出現(xiàn)這種情況，作為工程師的你估計頭皮要感覺到陣陣發(fā)麻了。電源 IC 的失效常常是其輸入端受到電氣過應力（ EOS）的結果。在很多情況下，器件失效的原因都是輸入電壓太高了。本文對電源 IC 輸入端 ESD
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