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故障測(cè)試
故障測(cè)試 文章 進(jìn)入故障測(cè)試技術(shù)社區(qū)
用于故障測(cè)試的板載固定裝置
- 如果您的電路設(shè)計(jì)要求容忍某些故障并它們的發(fā)生,您將需要在測(cè)試和啟動(dòng)過(guò)程中測(cè)試設(shè)計(jì)的故障檢測(cè)和保護(hù)功能。為了簡(jiǎn)化此測(cè)試,請(qǐng)考慮在原型印刷電路板中構(gòu)建故障注入裝置和功能。如果您的電路設(shè)計(jì)要求容忍某些故障并它們的發(fā)生,您將需要在測(cè)試和啟動(dòng)過(guò)程中測(cè)試設(shè)計(jì)的故障檢測(cè)和保護(hù)功能。為了簡(jiǎn)化此測(cè)試,請(qǐng)考慮在原型印刷電路板中構(gòu)建故障注入裝置和功能。過(guò)壓和欠壓監(jiān)控您可以在設(shè)計(jì)中構(gòu)建電路,以強(qiáng)制電壓監(jiān)控器檢測(cè)到過(guò)壓或欠壓事件。對(duì)于帶有數(shù)字接口的電源,您可能只需要暴露通信引腳。對(duì)于沒(méi)有數(shù)字接口的電源,您需要暴露反饋引腳。調(diào)制輸出
- 關(guān)鍵字: 故障測(cè)試
基于ARM和CPLD的橫機(jī)機(jī)頭電路測(cè)試系統(tǒng)
- 為解決電腦橫機(jī)機(jī)頭控制系統(tǒng)信號(hào)的測(cè)試可靠性問(wèn)題,基于低成本、高效率的考慮,研究設(shè)計(jì)了機(jī)頭控制系統(tǒng)電路板的批量測(cè)試系統(tǒng)。該系統(tǒng)采用TI公司的LM 3S5R31芯片作為系統(tǒng)的核心部分,通過(guò)CPLD進(jìn)行I/O擴(kuò)展及輔助控制,使得系統(tǒng)功能靈活強(qiáng)大。將同一信號(hào)通路中的前后級(jí)元件信號(hào)進(jìn)行編碼,向待測(cè)板發(fā)送握手信號(hào)并使之發(fā)送反饋信號(hào),該系統(tǒng)將反饋信號(hào)進(jìn)行采樣并在程序中比較計(jì)算,制作了實(shí)物并進(jìn)行了大量實(shí)驗(yàn)。
- 關(guān)鍵字: 故障測(cè)試 I/O擴(kuò)展 CPLD
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故障測(cè)試介紹
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