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          IC芯片的晶圓級射頻(RF)測試

          • 對于超薄介質(zhì),由于存在大的漏電和非線性,通過標準I-V和C-V測試不能直接提取氧化層電容(Cox)。然而,使用高頻電路模型則能夠精確提取這些參數(shù)。隨著業(yè)
          • 關(guān)鍵字: IC芯片  晶圓級RF測試  
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          晶圓級rf測試介紹

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