采用模塊化儀器構(gòu)建RFID測(cè)試系統(tǒng)

• 摘要： 本文主要介紹如何利用NI的優(yōu)勢(shì)技術(shù)，具體實(shí)現(xiàn)RFID測(cè)試系統(tǒng)的構(gòu)建。關(guān)鍵詞： RFID測(cè)試；PXI平臺(tái)；板載FPGA RFID測(cè)試需求及現(xiàn)狀作為無(wú)線通訊的新興領(lǐng)域之一，RFID技術(shù)在具有無(wú)線通訊技術(shù)所共有的特性之外，又有著其獨(dú)有的特殊性，其中最為重要的是標(biāo)準(zhǔn)的多樣化。國(guó)際上制定RFID標(biāo)準(zhǔn)的組織比較著名的有三個(gè)：ISO，美國(guó)的EPC global以及日本的Ubiquitous ID Center，目前已定義的RFID標(biāo)準(zhǔn)，包括工作頻率在低頻(120-134kHz)，高頻(13
• 關(guān)鍵字： 0701_A  PXI平臺(tái)  RFID測(cè)試  板載FPGA  測(cè)量  測(cè)試  雜志_技術(shù)長(zhǎng)廊  模塊