精密數(shù)字萬用表加緊應(yīng)對現(xiàn)代電子設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)

• _____在當(dāng)今的電子設(shè)計(jì)中，從低功耗物聯(lián)網(wǎng)產(chǎn)品到汽車電子產(chǎn)品，低功耗和高效率是制造商的關(guān)鍵競爭優(yōu)勢。實(shí)現(xiàn)這些目標(biāo)意味著設(shè)計(jì)人員現(xiàn)在必須比以往任何時(shí)候都更多地測量更低的電流，并能夠捕獲無線設(shè)備產(chǎn)生的更復(fù)雜的負(fù)載電流波形。一個(gè)關(guān)鍵的挑戰(zhàn)是找到功能強(qiáng)大、易于使用的儀器，在非常低的功率水平下具有足夠的靈敏度。在審核、環(huán)境和制造測試方面，挑戰(zhàn)仍在繼續(xù)。制造商希望保持項(xiàng)目按時(shí)進(jìn)行，提高測試速度以提高吞吐量，最大限度地減少測試站的數(shù)量，并減少每個(gè)測試系統(tǒng)的儀器數(shù)量。鑒于開發(fā)計(jì)劃不斷縮短和競爭激烈的市場壓力，要求首先進(jìn)
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